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TU Berlin

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Vorlesungen

Mikroskopie WS 2013/2014

  • Lichtmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop
  • energiedispersive Elementanalyse im REM und TEM
  • Bestandteil des Moduls "Untersuchungsverfahren" 
Vorlesung im WS 2012/2013,  2 SWS
3334 L 670
17.10.2013 - 13.02.2014
donnerstags, 12 - 14 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger


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Übung für Mikroskopie WS 2013/2014

  • Begleitveranstaltung zur VL Mikroskopie
  • Vertiefung des Stoffs, insbes. im Hinblick auf die Veranstaltung Praktikum Transmissionselektronenmikroskopie
Vorlesung im WS 2012/2013,  2 SWS
3334 L 671
16.10.2013 - 12.02.2014
mittwochs, 14 - 16 Uhr
Raum KWT-A 107
Dr. Berger


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Messtechnische Grundlagen WS 2012/2013

  • Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
  • Oszilloskope
  • Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
  • Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
Vorlesung im WS 2012/2013,  2 SWS
3334 L 692
04.12.2012- 16.02.2013
dienstags, 12 - 14 Uhr
Raum KWT-A 107
Dr. Berger


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Mikroskopie WS 2012/2013

  • Lichtmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop
  • energiedispersive Elementanalyse im REM und TEM
  • Bestandteil des Moduls "Untersuchungsverfahren" 
Vorlesung im WS 2012/2013,  2 SWS
3334 L 670
18.10.2012 - 16.02.2013
donnerstags, 12 - 14 Uhr
Raum BH 248
Dr. Berger


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Übung für Mikroskopie WS 2012/2013

  • Begleitveranstaltung zur VL Mikroskopie
  • Vertiefung des Stoffs, insbes. im Hinblick auf die Veranstaltung Praktikum Transmissionselektronenmikroskopie
Vorlesung im WS 2012/2013,  2 SWS
3334 L 671
17.10.2012 - 15.02.2013
mittwochs, 14 - 16 Uhr
Raum KWT-A 107
Dr. Berger


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Physikalische Analysenverfahren SS 2012

  • Verfahren:
    Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption.
  • Abhandlungen:
    Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
Vorlesung im SS 2012,  2 SWS
3334 L 668
17.04.2012 - 14.07.2012
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Messtechnische Grundlagen WS 2011/2012

  • Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
  • Oszilloskope
  • Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
  • Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
Vorlesung im WS 2011/2012,  2 SWS
3334 L 692
18.10.2011 - 14.02.2012
dienstags, 12 - 14 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger


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Physikalische Analysenverfahren SS 2011

  • Verfahren:
    Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption.
  • Abhandlungen:
    Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
Vorlesung im SS 2011,  2 SWS
3334 L 668
19.04.2011 - 12.07.2011
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Messtechnische Grundlagen WS 2010/2011

  • Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
  • Oszilloskope
  • Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
  • Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...

 

Vorlesung im WS 2010/2011,  2 SWS
3334 L 692
19.10.2010 - 15.02.2011
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger


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Physikalische Analysenverfahren SS 2010

  • Verfahren:
    Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption.
  • Abhandlungen:
    Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.

 

Vorlesung im SS 2010,  2 SWS
3334 L 668
20.04.2010 - 17.07.2010
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Messtechnische Grundlagen WS 2009/2010

  • Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
  • Oszilloskope
  • Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
  • Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...

 

Vorlesung im WS 2009/2010,  2 SWS
3334 L 692
13.10.2009 - 13.02.2010
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger


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Physikalische Analysenverfahren SS 2009

  • Verfahren:
    Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption.
  • Abhandlungen:
    Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.

 

Vorlesung im SS 2009,  2 SWS
3334 L 668
21.04.2009 - 18.07.2009
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Messtechnische Grundlagen WS 2008/2009

  • Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
  • Oszilloskope
  • Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
  • Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...

 

Vorlesung im WS 2008/2009,  2 SWS
0334 L 692
14.10.2008 - 10.02.2009
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Physikalische Analysenverfahren SS 2008

  • Verfahren:
    Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption.
  • Abhandlungen:
    Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.

 

Vorlesung im SS 2008,  2 SWS
3334 L 668
15.04.2008 - 19.07.2008
dienstags, 14 - 16 Uhr
Raum KWT 107
Dr. Berger

  
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Praktika

Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2013/2014
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
20.01.2014 - 24.01.2014
Raum TEM 1
Berger

  
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2013/2014
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
13.01.2014 - 17.01.2014
Raum KWT 01b
Gernert

  
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2013/2014
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
06.01.2014 - 10.01.2014
Raum KWT 106
Fahrenson

  
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2012/2013
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
21.01.2013 - 25.01.2013
Raum TEM 1
Berger

  
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2012/2013
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
14.01.2013 - 18.01.2013
Raum TEM 3
Gernert

  
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2012/2013
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
07.01.2013 - 11.01.2013
Raum KWT 09
Nissen

  
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
SS 2013 
Raum KWT 10
Berger
Nissen

  
______________________________________________________________________

Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde

  • Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
  • Qualitative und quantitative Analyse
  • Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
  • Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
  • Elektronenbilder
Integrierte Lehrveranstaltung (offen für alle Fachgebiete)
3334 L 694
WS 2012/13
Raum KWT 01 
                 
Berger
Nissen 
 


______________________________________________________________________

Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
SS 2012
Raum KWT 10
Berger
Nissen
Gernert

  
______________________________________________________________________

Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
WS 2012/13
Raum KWT 10
Berger
Nissen
Gernert

  
______________________________________________________________________

Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde

  • Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
  • Qualitative und quantitative Analyse
  • Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
  • Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
  • Elektronenbilder
Integrierte Lehrveranstaltung (offen für alle Fachgebiete)
3334 L 694
2012 ganztägig
Raum KWT 01 
                 
Berger
Galbert   
 


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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2011/2012
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
23.01.2012 - 27.01.2012
Raum TEM 1
Berger

  
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2011/2012
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
16.01.2011 - 20.01.2011
Raum TEM 3
Gernert

  
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2011/2012
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
09.01.2012 - 13.01.2012
Raum KWT 09
Nissen

  
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2011

Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.

Termin: 14. bis 18. November 2011

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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
04.04.2011 - 05.04.2011
Raum KWT 10

Berger
Nissen
Gernert

  
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2010/2011
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
24.01.2011 - 28.01.2011
Raum TEM 1
Berger

  
_______________________________________________________________________

Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2010/2011
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
17.01.2011 - 21.01.2011
Raum TEM 3
Gernert

  
______________________________________________________________________

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2010/2011
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
10.01.2011 - 14.01.2011
Raum KWT 09
Nissen

  
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2010

Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.

Termin: 15. bis 19. November 2010

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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
22.3.2010 - 23.3.2010
Raum KWT 10
und KWT 07
Berger
Nissen
Gernert

  
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde

  • Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
  • Qualitative und quantitative Analyse
  • Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
  • Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
  • Elektronenbilder
Integrierte Lehrveranstaltung (offen für alle Fachgebiete)
3334 L 694
15.03.2010 - 19.03.2010
ganztägig
Raum KWT 01 
                 
Berger
Galbert   
 


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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2009/2010
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
18.01.2010 - 22.01.2010
Raum KWT 01
Berger

  
_______________________________________________________________________

Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2009/2010
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
11.01.2010 - 15.01.2010
Raum KWT 07
Gernert

  
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2009/2010
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
3231 L 101
04.01.2010 - 08.01.2010
Raum KWT 09
Nissen

  
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2009

Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.

Termin: 16. bis 20. November 2009

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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
12.03.2009 -13.03.2009
Raum KWT 10
und KWT 07
Berger
Nissen
Gernert

  
______________________________________________________________________

Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde

  • Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
  • Qualitative und quantitative Analyse
  • Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
  • Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
  • Elektronenbilder
Integrierte Lehrveranstaltung (offen für alle Fachgebiete)
0334 L 694
16.03.2009 - 27.03.2009
ganztägig
Raum KWT 01 
                 
Berger
Galbert   
 

 
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)

  • Aufbau des TEM
  • Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
  • Probenpräparation
Methoden der angewandten Physik I - WS 2008/2009
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
19.01.2009 - 23.01.2009
Raum KWT 01
Berger

  
______________________________________________________________________

Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)

  • Physikalische Grundlagen:
    Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup
  • Auswertung:
    Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse
  • Linescan; Röntgenverteilungsbilder
  • Instrumentelles
Methoden der angewandten Physik I - WS 2008/2009
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
12.01.2009 - 16.01.2009
Raum KWT 07
Gernert

  
______________________________________________________________________

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

  • Apparative Komponenten:
    Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem
  • Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
    Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen
  • Bilderstellung
Methoden der angewandten Physik I - WS 2008/2009
Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Bimberg
0231 L 101
05.01.2009 - 09.01.2009
Raum KWT 09
Nissen

  
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Scanning electron microscopy and Xray analysis

Im Rahmen der Global Production Engineering MSc - Lehrveranstaltung von Prof. Shrestha 
3536 L 490       
26.11.2008 /
10.12.2008           
Raum KWT 10
und    KWT 07 
Nissen
Gernert

  
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen

Integrierte Lehrveranstaltung
3237 L 285
17.11.2008 - 18.11.2008
Raum KWT 10
und KWT 07
Berger
Nissen
Gernert

  
______________________________________________________________________

Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse für Geowissenschaftler (Teil 2)

Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Dominik
0632 L 905
15.09.2008 - 16.09.2008
Raum KWT 10
und KWT 106
Berger
Nissen
Gernert
Galbert

  
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde

  • Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
  • Qualitative und quantitative Analyse
  • Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
  • Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
  • Elektronenbilder
Integrierte Lehrveranstaltung
0334 L 694
25.02.2008 - 07.03.2008
ganztägig
Raum KWT 01
Berger
Galbert

  
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Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse für Geowissenschaftler (Teil 1)

Im Rahmen der Lehrveranstaltung von Prof. Dominik
0632 L 905
18.02.2008 - 19.02.2008
Raum KWT 10
und KWT 106
Berger
Nissen
Gernert

  

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Gebäude KWT-Altbau
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