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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik"

Praktikum am SEM Hitachi S-4000
Lupe
Praktikum am TEM Tecnai G² 20 S-twin
Lupe
Praktikum am SEM Hitachi S-2700
Lupe

Zum dritten Mal fand erfolgreich im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ vom 14. bis 18. November 2011 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.

Neue Mitarbeiterin

24.10.2011

Wir begrüßen ganz herzlich unsere neue Mitarbeiterin Iryna Driehorst und freuen uns auf die Zusammenarbeit. Frau Driehorst wird im Bereich der Raster-elektronenmikroskopie tätig sein.

Neues Großgerät in der ZELMI

Lupe

12.10.2011

Für die hochaufgelöste Elementanalytik ist eine neue Elektronenstrahlmikrosonde vom Typ JEOL JXA-8530F am ZELMI-Standort KWT-Altbau in Betrieb genommen worden. Mit ihrer Feldemissionskathode und 5 wellenlängendispersiven Kristallspektrometern sollen  Analysen bei hoher lateraler Auflösung (<100 nm) und geringer Nachweisgrenze (einige 10 ppm) möglich werden.

Mit Unterstützung der Fakultät II wurde das EFRE-geförderte Projekt  durch eine Kooperation der ZELMI mit 14 Unternehmen und Forschungseinrichtungen aus dem Berliner Raum realisiert.

Einweihung Elektronenmikroskopie-Neubau

Am 20.10.2011 wird das neue Elektronenmikroskopiegebäude der TU Berlin eingeweiht, in dem 4 hochauflösende Elektronenmikroskope der ZELMI und der AG Lehmann aufgestellt sind.

www.tu-berlin.de/?id=108826

Stellenausschreibung in der ZELMI

16.06.2011

In der ZELMI ist die Stelle eines SEM-Operators zu besetzen!
Nähere Informationen unter:
www.personalabteilung.tu-berlin.de/fileadmin/abt6/archiv
/Stellenausschreibungen/externe_Stellenausschreibungen/Techn._Beschaeftigte(r)
/5930008.06.2011_Fak._II,_Inst._fuer_Optik_u._Atomare_Physik.pdf

oder bei
Dr. Dirk Berger, ZELMI

Die Bewerbungsfrist endet am 30.06.2011

Lange Nacht der Wissenschaften 2011

28.5.2011

Der Elektronenmikroskopie-Neubau (TEM) stand als "Haus der Mikroskopie" bei der diesjährigen Langen Nacht der Wissenschaften mit im Mittelpunkt. Über 750 Besucher fanden sich ein und auch die Präsidententour machte  Station.

8. TEM Präparatorentreffen

Das Treffen der TEM-Präparatoren aus dem Berliner/Brandenburger Raum findet dieses Jahr am
14.4.2011 von
9:30 - 16:00 im
KWT 107
erstmalig an der TU-Berlin statt. Derzeit sind 35 Teilnehmer angemeldet, um sich über neueste Ergebnisse und Probleme bei der TEM-Präparation zu informieren und auszutauschen.

Vorlesung Physikalische Analyseverfahren

Ab 19.04.2011 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (<acronym title="Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie">ZELMI</acronym>)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der <acronym title="Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie">ZELMI</acronym> und am GFZ Potsdam

LNDW Haus der Mikroskopie

Lupe

Die ZELMI ist an der LNDW im Haus der Mikroskopie zusammen mit dem Fachgebiet "Elektronenmikroskopie und -holografie" mit 7 Projekten beteiligt. Näheres kann den Informationen der LNDW entnommen werden.

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" (Kopie 1)

Praktikum am TEM
Lupe

Zum zweiten Mal fand erfolgreich im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ vom 15. bis 19. November 2010 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.

Erstes Praktikum im Neubau

TEM-Praktikum
Lupe

Das TEM-Praktikum für die TBF-Metallografie WS 2010 hat in den modernen Laborräumen des Neubaus begonnen.

Kundenbetrieb am S-4000 wieder aufgenommen

S-4000 Umzug
Lupe

10. September 2010
Nach erfolgtem Umzug und Inbetrieb-nahme werden seit heute wieder Kundenmessungen am REM Hitachi S-4000 durchgeführt. Allerdings ist die Nutzung des Mikroskops zurzeit eingeschränkt, da wesentliche Installationen im Neubau noch fertiggestellt werden müssen.

Erster Elektronenstrahl im Neubau

Lupe

9. September 2010
Im Rahmen der FIB-Installation gab es heute das erste Elektronenstrahlbild im Mikroskopieneubau!

Umzug des TEM Tecnai G²20 S-Twin

Lupe

7. September 2010
Umzug des Transmissionselektronen-mikroskops Tecnai G²20 S-Twin in den Neubau

Umzug des SEM S-4000

Lupe
Lupe

6. September 2010
Umzug des Rasterelektronenmikroskops Hitachi S-4000 in den Neubau

Anlieferung FIB FEI Helios 600

FIB
Lupe

2. September 2010
Anlieferung der FIB Helios 600 in der ZELMI

Übergabe des Neubaus

Gebäude TEM
Lupe

31. August 2010 
Übergabe des Neubaus, in den 3 unserer Elektronenmikroskope aufgestellt werden.

Installation der FIB

17.8.2010
Ab 2.9.2010 wird im Mikroskopieneubau die neue FIB (Focused Ion Beam Helios 600) installiert, die durch ein gemeinsames EFRE-Projekt "Nano-Werkbank" mit Prof. Eisebitt beschafft wurde. Herzlichen Dank an alle Beteiligten für die Realisierung dieser Gerätebeschaffung!

Umzug von Tecnai und S-4000

17.8.2010
Der Mikroskopieneubau für die AG Lehmann und die ZELMI nähert sich der Fertigstellung. Am 6.9.2010 werden unser Rasterelektronenmikroskop S4000 und das konventionelle Transmissionselektronenmikroskop Tecnai G2 20 in den Neubau umziehen. Beide Geräte werden dazu am 30.8. abgeschaltet.
Das S4000 steht ab Mitte September und das Tecnai ab Ende September wieder zur Verfügung. Wir freuen uns dann bei idealen Aufstellungsbedingungen endlich das Optimum aus beiden Geräten erhalten zu können! Herzlichen Dank an alle Beteiligten für die Realisierung dieses einmaligen Laborbaus.

Die bisherigen Ansprechpartner und Telefonnummern bleiben erhalten.

Neue Veröffentlichung erschienen

Titelbild in Advanced Functional Materials
Titelbild in Advanced Functional Materials
Lupe

22.06.2010
Mit Beteiligung der ZELMI sind neue Forschungsergebnisse der AG Hildebrandt veröffentlicht:
Jiu-Ju Feng, Ulrich Gernert, Peter Hildebrandt, Inez M. Weidinger:
"Induced SER-Activity in Nanostructured Ag-Silica-Au Supports via Long-Range Plasmon Coupling" http://www3.interscience.wiley.com
/journal/123552405/abstract







Bilddatei (JPG, 221,1 KB)

Lange Nacht der Wissenschaften

05.06.2010
Wir danken den 567 Besuchern der Langen Nacht der Wissenschaften für Ihr Interesse am "Haus der Mikroskopie" in der ZELMI!

Neue Veröffentlichung erschienen

Die ZELMI unterstützt die Arbeit von Kunsthistorikern durch elektronenmikroskopische Messungen an Gemälden und Skulpturen. Zu unseren REM/EDX-Untersuchungen an einem Portrait des Kurfürsten Joachim II. von Brandenburg von Lukas Cranach d. J. (um 1555) in Zusammenarbeit mit der Stiftung Preußische Schlösser und Gärten gibt es eine aktuelle Veröffentlichung:
J. Nissen, Dr. J. Bartoll
SEM/EDX-Analysis in Art History
Imaging & Microscopy, April 2010

Herzlichen Glückwunsch Alexander Thiel

Alexander Thiel hat seine Diplomarbeit

Photometrische 3D-Rekonstruktion aus Bilddaten eines Rasterelektronenmikroskops mit einem 4-Quadranten-Rückstreuelektronen-Detektor

im April 2010 erfolgreich abgeschlossen.
Die Diplomarbeit wurde von Prof. O. Hellwich vom FG Computer Vision & Remote Sensing der TU Berlin betreut. Das Thema wurde von der ZELMI in Kooperation mit dem Potsdamer Unternehmen m2c gestellt und an der ZELMI unter Leitung von Dr. D. Berger angefertigt.

Wahl der Vorsitzenden des Rates der ZELMI

Herzlichen Glückwunsch an
Herrn Prof. G. Franz zur Wahl als Vorsitzender des Rates der ZELMI
und an
Herrn Prof. P. Hildebrandt zur Wahl als stellvertretenden Vorsitzenden des Rates der ZELMI

Beide Kandidaten haben die Wahl angenommen. Wir freuen uns auf die Zusammenarbeit!

Sitzung des ZELMI-Rates

Die konstituierende Sitzung des Rates der ZELMI für die kommenden 2 Jahre findet
am Freitag, den 16.4.2010
um 11:00
im Raum KWT 107 (ZELMI) statt.

Vorlesung Physikalische Analyseverfahren

Ab 20.04.2010 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der ZELMI und am GFZ Potsdam

Praktikum REM für Biotechnologen

Am 22.03.2010 findet wieder das Praktikum "Rasterelektronen-Mikroskopie für Biotechnologen" (LV 3237 L285) in der ZELMI statt. Leider sind bereits alle Plätze vergeben. Inetressenten können sich jetzt für das nächste Praktikum im nächsten Jahr vormerken lassen.

Aktuelle Veröffentlichung

Zu unseren Arbeiten zur Steigerung der Nachweisempfindlichkeit für leichte Elemente durch Verwendung einer speziellen Röntgenoptik in Kombination mit Silizium Drift Detektoren gibt es eine aktuelle Veröffentlichung:
U. Gernert
EDS Using an SDD with Xray Optic
Imaging & Microscopy, Mar 2010, vol. 12

Vortrag Dr. Berger

5. und 12. März 2010  9.00 Uhr KWT 107
Neuerungen von aktuellen Rasterelektronenmikroskopen SEM

Anhand von Aufnahmen soll gezeigt werden, welche verbesserten bzw. neuen Analysemethoden aktuelle SEMs bieten

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik"

Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ findet vom 16. bis 20. November 2009 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.
Dieser Kurs ist bereits ausgebucht.

Vorlesung Messtechnische Grundlagen

Ab 13.10.2009 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
-historische und moderne Messgeräte für elektrische Größen, inkl. AD-Wandler
- Oszilloskope
- von Transistorverstärker über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, Box-Car etc. und ihre Beschaltungen
- Sensoren für nichtelektrische Größen (Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung etc.)

Neues EDX-System am REM

12.10.2009
Unser Zeiss Feldemissions-REM DSM 982 ist zurzeit ausgestattet mit dem EDX-System der Fa. IXRF SYSTEMS, Inc. in Kombination mit einem e2v silicon drift detector neuester Bauart.
Mit freundlicher Unterstützung durch die eumeX Instrumentebau GmbH.

Vortrag Prof. Krauss 12.10.2009 14:00

Prof. G. Krauss
Lupe

Wir danken Herrn Prof. Krauss für seinen Vortrag und seinen Aufenthalt in der ZELMI, bei dem er uns wertvolle Hinweise für die weitere Arbeit der TEM-Analyse an Stählen gegeben hat.

“Dramatic Developments in Automotive Sheet Steel Processing, Chemistry, Microstructure and Properties”
by
George Krauss
University Emeritus Professor and
Research Professor Colorado School of MinesGolden, Colorado, U.S.A.

12. Oktober 2009, 14:00
Technische Universität Berlin
KWT 107 (ZELMI)

Alle Interessenten sind herzlich willkommen!

Tecnai G² 20 S-Twin

6.5.2009
Nach 8 wöchiger Wartungs- und anschließender Reparaturzeit soll das TEM nun ab 12.5.2009 wieder zur Verfügung stehen. Wir bemühen uns, die aufgelaufenen Analyseanfragen schnell aufzuarbeiten.

Tagungsbeteiligung MC2009

15.5.2009
Die ZELMI beteiligt sich mit 5 Beiträgen an der Elektronenmikroskopietagung MC2009 in Graz 1. - 4.9.2009:

• Quantitative Analysis of Nanoparticles with EPMA
• SEM/EDX Analysis of a Portrait of Joachim II. Elector of Brandenburg (1505-1571) by Lukas Cranach the younger
• Improving EDS for Light Elements using an attachable X-Ray Optics with an SDD in SEM
• 4-Quadrant-Large-Angles-BSE-Analysis: Problems and Approaches for Quantitative 3D-Surface Reconstruction
• Structural Characterization of Si-Nanowires using a 200kV LaB6 TEM

Nach der Tagung stehen die kompletten Beiträge in der ZELMI zur Verfügung.

Die früheren Tagungsbeiträge der ZELMI hängen nun auch auf dem Flur als Poster aus.


Vorlesung Physikalische Analysenverfahren

24.03.2009
Ab 21.04.2008 findet dienstags wieder die Vorlesung "Physikalischen Analysenverfahren" (3334 L 668) von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der ZELMI

Tecnai G² 20 S-Twin

23.3.2009
Am Transmissionselektronenmikroskop konnten nun zwei neue Probenhalter installiert werden:
• Low-Background-Doppelkipphalter für Kristallographie und/oder EDS-Messungen
• Vakuum-Transfer Doppelkipphalter für sauerstoffempfindliche Proben
Beide Halter wurden durch Prof. Lehmann beschafft.

Praktikum für Biotechnologen

10.3.2009
Ab 30.3.2009 findet wieder das Praktikum "Rasterelektronen-Mikroskopie für Biotechnologen" (LV 3237 L285) in der ZELMI statt. Leider sind bereits alle Plätze vergeben. Inetressenten können sich jetzt für das nächste Praktikum im Herbst vormerken lassen.

Praktikum an der Elektronenstrahl-Mikrosonde

09.02.2009
Vom 16.03. bis 27.03. findet das nächste Mikrosonden-Praktikum statt. Informationen und Anmeldung unter Tel. 23484 oder 26412.
Die Teilnehmerzahl ist begrenzt.

Neuer Mitarbeiter

05.01.2009
Wir begrüßen unseren neuen Mitarbeiter Sören Selve in der ZELMI ganz herzlich. Sein Aufgabengebiet ist die Durchführung von TEM-Untersuchungen im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat und als Auftragsarbeiten für andere Fachgebiete und Arbeitsgruppen.

Neuer EDX-Detektor am REM

SDD am DSM 982
silicon drift detector
Lupe

21.10.2008
Unser Zeiss Feldemissions-REM DSM 982 ist jetzt mit einem EDX-Detektor neuester Bauart (SDD silicon drift detector) ausgestattet. Mit freundlicher Unterstützung durch die remX GmbH.

Vorlesung Messtechnische Grundlagen

1.10.2008
Ab 14.10.2008 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
-historische und moderne Messgeräte für elektrische Größen, inkl. AD-Wandler
- Oszilloskope
- von Transistorverstärker über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, Box-Car etc. und ihre Beschaltungen
- Sensoren für nichtelektrische Größen (Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung etc.)

Tecnai G20

22.9.2008
Das TEM Tecnai G20 des UniCat-Clusters konnte nun abgenommen werden und erreicht die am gegewärtigen Standort mögliche Leistung.
Das TEM steht ab sofort für den Nutzerbetrieb zur Verfügung!

TEM-Präparatorin

10.9.2008
Wir begrüßen herzlich unsere neue Mitarbeiterin Frau Cordelia Lange, die sich um die TEM-Präparation insbesondere für UniCat kümmern wird.

Stellenausschreibung "Technische/r Angestellte/r für Probenanalysen mittels TEM"

14.8.2008
An der ZELMI ist die Stelle eines TEM-Operateurs an dem gerade neu
gelieferten FEI Tecnai G20 ausgeschrieben. Es geht zum einen um die Analyse von Katalysatoren der Chemiker im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat und zum anderen um die Mitarbeit im Nutzerbetrieb der ZELMI.
Ausschreibungstext (PDF, 24,6 KB)

Installation Tecnai G20

14.8.2008
Am neuen TEM werden derzeit noch Kinderkrankheiten durch den Hersteller ausgemerzt. Daher ist leider noch kein Nutzerservice an dem Gerät möglich.

Erste Ergebnisse mit unserem neuen TEM

silicon nanowires, AG Thomsen
Nanowire, AG Thomsen
Lupe
Neues TEM in der ZELMI: FEI Tecnai G2 20
Lupe

10.07.2008
Das neue 200 kV TEM vom Typ Tecnai G² 20 der Firma FEI ist installiert. Die ersten Aufnahmen und EDX-Messungen sind erfolgversprechend. Kalibrierungen und Testmessungen laufen. Finanziert wird das Tecnai aus Mitteln des Exzellenzclusters UniCat. Für die Charakterisierung katalytischer Substanzen wird es einen wichtigen Beitrag leisten.
Mit dem Tecnai G² 20 verfügen wir über ein TEM, das uns analytische Messungen im Subnanometerbereich ermöglichen wird.

Kolloquium "Mikrobereichsanalyse"

Mit Dr. T. Salge, Fa. Bruker
03.07.2008  9:00 - 13:00 Uhr
Seminarraum KWT 107

Vortrag "Neue Detektionsmethoden im Rasterelektronenmikroskop"

Mit Dr. Jaksch, Fa. Zeiss
12.06.2008  Beginn 12:30 Uhr
Seminarraum KWT 107

Neues TEM geliefert

09.06.2008
Das neue Transmissionselektronenmikroskop ist geliefert und wird gegenwärtig installiert.

Stellenausschreibung "TEM-Präparation"

07.06.2008
Im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat ist eine Stelle Techn. Assistent/in für den Bereich der Präparation von Proben für die Analyse im Transmissions-elektronenmikroskop zu besetzen.

Ausschreibungstext (PDF, 24,6 KB)

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