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TU Berlin

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ZEISS GeminiSEM500 NanoVP

Lupe

Niedrigvakuum-Hochauflösungs-SEM 

Features

  • Gemini I Optik für höchste Auflösung 0.6 nm @ 15kV
  • Nano-Twin-Linse für höchste lowkV-Auflösung 1.2 nm @ 500V
  • Nano-VP für höchste lowVac-Auflösung 1.8 nm @ 30 Pa, 3kV
  • Inlens-Detektoren dauerhaft bei bis 150 Pa nutzbar
  • Niedrigvakuum-Bereich bis 500 Pa
  • Kühltisch -30° C bis +50°C
  • 80 mm Schleuse
  • Bruker Quantax XFlash 6|60
  • Analytische Auflösung 2 nm @ 5 nA, WD 8.5 mm, 15 kV
  • 3D-Analytik mit 4-Quadranten-Rückstreudetektor

Hitachi SU8030

Hitachi SU8030
Lupe

Rasterelektronenmikroskop neuester Bauart mit kalter Feldemissionskathode
und Triple Detektionssystem

Features:
•  Auflösung 1 nm bei 15 kV
•  Low voltage Betrieb bis 100 V
•  Deceleration Mode
•  STEM Mode
•  4 SE- / BSE-Detektoren mit energie- und winkelselektiver Detektion
•  5 Segment BSE Detektor
•  TEAM EDX-System der Fa. EDAX mit 30 mm2 SDD
   ·  Quantitatives Mapping
   ·  Phasenanalyse
•  DISS 5 Bildaufnahmesystem der Fa. point electronic
   ·  Gleichzeitige Aufnahme von 4 Detektorsignalen
   ·  Frei wählbare Bildformate

Zeiss DSM 982 GEMINI

Gemini
Lupe

Rasterelektronenmikroskop mit thermischer Feldemissionskathode (Schottky field emitter), optimiert für Hochauflösung und Röntgenanalytik bei niedriger Beschleunigungsspannung

Ausstattung:
•  Probenschleuse
•  Motorisierter Probentisch
•  Inlens-Sekundärelektronen-Detektor
•  Everhart-Thornley Kammer-Sekundärelektronen-Detektor
•  K.E.D. 4-Quadranten-BSE-Detektor
•  IR-Kamera
•  point electronic Bildaufnahmesystem
   ·  4096 x 4096 Pixel
   ·  12 Bit A/D Wandler
•  EDAX EDX-System
   ·  Apollo XPP mit nom. 10mm2 (SDD)
   ·  Energieauflösung 123.9 eV @ Mn-Kα
   ·  Punktmessung und Linienprofile (linescan)
   ·  Elementverteilungsbilder
   ·  Benutzeroberfläche Genesis und TEAM
•  EDAX EBSD-System
   ·  Hikari XP-Detektor
   ·  Benutzeroberfläche OIM und TEAM
   ·  OIM Analysis zur Datenauswertung
   ·  kombinierte EDX- und EBSD-Messung mit TEAM

 

 

Hitachi S-4000

S-4000
Lupe

Rasterelektronenmikroskop mit kalter Feldemissionskathode (cold field emitter), optimiert für höchste Auflösung

Ausstattung:
•  Probenschleuse
•  euzentrischer motorisierter 5-Achsen-Probentisch
•  Robinson-Detektor
•  IDE Schwingungsisolationssystem
•  IDE Magnetfeldkompensationssystem
•  point electronic Bildaufnahmesystem
   ·  4096 x 4096 Pixel
   ·  12 Bit A/D Wandler
   ·  Elementverteilungsbilder
•  SAMx EDX-System
   ·  eumeX 30 mm2 Si(Li)-Detektor
   ·  Moxtek AP1.3 ultradünnes Polymer-Fenster
   ·  XIA LLC digitaler Pulsprozessor NumeriX

Zusatzinformationen / Extras

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