TU Berlin

Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI)Probenpräparation für TEM

Inhalt des Dokuments

zur Navigation

TEM-Präparation

Untersuchungen mittels TEM stellen besondere Anforderungen an die Proben. Sie müssen zum einen elektronentransparent, also sehr dünn sein, zum anderen trocken, vakuumstabil und dürfen sich unter Elektronenbeschuß nicht verändern.
Je nach Material und Aufgabenstellung können die maximalen Probendicken variieren, sollten aber, um gute Untersuchungsergebnisse zu erlangen, nicht deutlich dicker als 100 nm sein.
Für atomare Auflösung sollten die Probendicken unter 20 nm liegen.

Wir bieten unterschiedliche Präparationsmethoden an, die jeweils spezielle Arten der Probencharakterisierung gestatten.
Entsprechend den Anforderungen sind auch andere Arten der Präparation möglich.

Bei den Angaben der Zeiten handelt es sich um reine Arbeitszeiten, eventuell kommen noch Trocken- und Prozesszeiten hinzu.

Präparationsmethoden

  • Cross-Section Präparation
    - zur strukturellen Analyse von Schichten und Schichtsystemen auf
      Trägermaterialien im Querschnitt
    - z.B. zum Nachweis der Kristallinität, Wachstumsrichtung, Porösität oder
      Oberflächenrauhigkeit
    - Präparationsaufwand: ca. 24 h / Probe
     
  • Plan-View Präparation
    - zur strukturellen Analyse von Schichten auf Trägermaterialien oder
      Bulkmaterialien in Aufsicht
    - z.B. zum Nachweis der Kristallinität, Kristallitgrößen oder inneren Struktur
    - Präparationsaufwand: ca. 16 h / Probe

  • verschiedene Arten der Pulverpräparation
    - zur strukturellen Analyse von Pulvern, Nanopartikeln, Agregaten, ...
    - nanoskalige Pulver (ca. 5...100 nm Partikelgröße)
    - Präparationsaufwand: ca. 20 min / Probe
    - nano- bis mikroskalige Pulver (0,1...1 µm Partikelgröße)
    - Präparationsaufwand: ca. 30 min / Probe
    - grobkörnige Pulver (ca. 1...100 µm Partikelgröße)
    - Präparationsaufwand: ca. 16 h / Probe

  • Präparation von Suspensionen/Mikroemulsionen/kolloidalen Lösungen
    - zur strukturellen Analyse der enthaltenen Partikel
    - Präparationsaufwand: ca. 30 min / Probe

  • Elektropolieren (in Abstimmung mit einem anderen Labor)
    - zur strukturellen Analyse von Metallen
    - z.B. zum Nachweis von Kristallitgrößen, Ausscheidungen oder Korngrenzen
    - Präparationsaufwand: ca. 8 h / Probe

  • Rauchgaspräparation
    -
    zur strukturellen Analyse von Verbrennungsprodukten
    - Präparationsaufwand: ca. 30 min / Probe

  • FIB-Präparation
    -
    Zielpräparation an nahezu allen Arten von Materialien mit
      unterschiedlichen Oberflächengeometrien, Schichten und Schichtsystemen
      zur strukturellen Analyse im TEM
    - Präparationsaufwand: ca. 5 h / Probe

Navigation

Direktzugang

Schnellnavigation zur Seite über Nummerneingabe