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TU Berlin

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FEI Tecnai G² 20 S-TWIN

Lupe

Transmissionselektronenmikroskop

 mit

• LaB6-Kathode

• 200 kV Beschleunigungsspannung

• Punktauflösung: 0,24 nm

beschafft durch das Exzellenzcluster UniCat

Ausstattung:
• Einzelkipphalter
• Low-Background-Doppelkipphalter für Kristallographie und/oder EDS-Messungen
• Vakuum-Transfer Doppelkipphalter für sauerstoffempfindliche Proben
• 5-Achs-Goniometer „CompuStage“ 
• GATAN MS794 P CCD-Kamera
  · 1024 x 1024 pixel, Digital Micrograph Bildaufnahme und -auswertung 
• EDX (EDAX) r-TEM SUTW Detector
  · Si(Li) Detektor
  · Energieauflösung: ≤ 136 eV für Mn Ka
  · Nachweis ab Element Bor (Z=5)

Verfahren:
•  Hell-/Dunkelfeld:
   - zur Bestimmung stark streuender/kristalliner Bereiche in der Probe
   - zur Analyse von Biegekonturen
   - Sichtbarmachen von Versetzungen, Korngrenzen, Phasen, Orientierungen
•  Z-Kontrast:
   - zeigt Bereiche unterschiedlicher Ordnungszahlen in unterschiedlichen
     Helligkeiten
•  HRTEM:
   - zur strukturellen Analyse im atomaren Bereich
   - Untersuchung von Schichtaufbau, Grenzflächen, Kristallbaufehlern
•  Beugung:
  - zur Bestimmung der Kristallstruktur (kristallin/polykristallin/amorph)
  - zur Bestimmung von Kristallorientierung, Epitaxie
  - zur qualitativen Analyse in der Probe enthaltener Materialkombinationen
•  EDX:
  - zur qualitativen Elementanalyse

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Ansprechpartner

Sören Selve
+49 (0)30 314-26841
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Ansprechpartner Präparation

Jan Simke
+49 - (0)30 - 314-26802
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