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TU Berlin

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FEI Tecnai G² 20 S-TWIN (FEI Company, OR, USA)

Lupe [1]

2008 beschafft durch das Exzellenzcluster UniCat (DFG)

2018 STEM-Upgrade durch das Projekt innoKA (BMWi)

 

Konventionelles Transmissionselektronenmikroskop mit

  • LaB6-Kathode
  • 200 kV Beschleunigungsspannung
  • TEM-Punktauflösung: 0,24 nm
  • STEM Auflösung: 3nm

 

Ausstattung:

  • 5-Achs-Goniometer „CompuStage“  
  • MS794 P CCD-Kamera (GATAN Inc., CA, USA)
    -  1024 x 1024 Pixel
  • STEM-Unit mit DISS5 Scan Generator (Point electronic GmbH, Halle, GER)
    -  minimal 220 ns dwell time
    -  maximal 16000 x 16000 Pixel
    -  Aufzeichung von bis zu 4 parrallelen Detektorsignalen
  • STEM-22-4-3-BF15 BF/ADF/HAADF-STEM-Detektor (PN-Detector, Munich, GER)
    -  segmentierter Halbleiter-Ringdetektor mit integriertem BF-Detektor
    -  13 Segmente/Kanäle
  • EDX (EDAX) r-TEM SUTW Detector(EDAX Inc., NJ, USA)
    -  Si(Li) Detektor
    -  Energieauflösung: ≤ 136 eV für Mn Ka
    -  Nachweis ab Element Bor (Z=5)
  • Probenhalter:
    -  Einzelkipphalter für 1 Probe (FEI)
    -  Einzelkipphalter für 3 Proben (GATAN)
    -  Low-Background-Doppelkipphalter für 1 Probe (FEI)
    -  Vakuum-Transfer-Low-Background-Doppelkipphalter (GATAN) für luftempfindliche Proben
  • Software:
    -  Digital Micrograph für TEM Bildaufnahme und -auswertung (GATAN)
    -  Genesis für EDX-Analysen  (EDAX)
    -  DISS5, DIPS für STEM Bildaufnahme und -Auswertung (point electronic) 

 

Verfahren:

  • Konventionelle TEM (BF/DF)
    - Untersuchung der Mikrostruktur, Versetzungen, Korngrenzen
  • Feinbereichs-/konvergente Elektronenbeugung
    -  Kristallstruktur, Orientierung, Phasenidentifizierung
    -  Bestimmung der Probendicke (bei kristallinem Material)
  • HRTEM
    -  strukturelle Analyse im sub-Nanometer Bereich
  • STEM (BF/ADF/HAADF)
    zur Trennung von Material-, Orientierungs- und Dickenkontrasten
    für strahlsensitive Materialien, durch Reduzierung der e-Dosisrate
  • EDX
    -  qualitative Elementanalyse
    -  Punktmessungen sowie Elementmappings und - linescans

Ansprechpartner

Sören Selve
+49 (0)30 314-26841
TEM-Gebäude
E-Mail-Anfrage [2]

Ansprechpartner Präparation

Jan Simke
+49 - (0)30 - 314-26802
TEM-Gebäude
E-Mail-Anfrage [3]
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