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Mikroskopie WS 2013/2014
- Lichtmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop
- energiedispersive Elementanalyse im REM und TEM
- Bestandteil des Moduls "Untersuchungsverfahren"
3334 L 670 | 17.10.2013 - 13.02.2014 donnerstags, 12 - 14 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Übung für Mikroskopie WS 2013/2014
- Begleitveranstaltung zur VL Mikroskopie
- Vertiefung des Stoffs, insbes. im Hinblick auf die Veranstaltung Praktikum Transmissionselektronenmikroskopie
3334 L 671 | 16.10.2013 - 12.02.2014 mittwochs, 14 - 16 Uhr | Raum KWT-A 107 | Dr. Berger |
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Messtechnische Grundlagen WS 2012/2013
- Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
- Oszilloskope
- Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
- Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
3334 L 692 | 04.12.2012- 16.02.2013 dienstags, 12 - 14 Uhr | Raum KWT-A 107 | Dr. Berger |
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Mikroskopie WS 2012/2013
- Lichtmikroskop, Rasterelektronenmikroskop, Transmissionselektronenmikroskop
- energiedispersive Elementanalyse im REM und TEM
- Bestandteil des Moduls "Untersuchungsverfahren"
3334 L 670 | 18.10.2012 - 16.02.2013 donnerstags, 12 - 14 Uhr | Raum BH 248 | Dr. Berger |
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Übung für Mikroskopie WS 2012/2013
- Begleitveranstaltung zur VL Mikroskopie
- Vertiefung des Stoffs, insbes. im Hinblick auf die Veranstaltung Praktikum Transmissionselektronenmikroskopie
3334 L 671 | 17.10.2012 - 15.02.2013 mittwochs, 14 - 16 Uhr | Raum KWT-A 107 | Dr. Berger |
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Physikalische Analysenverfahren SS 2012
- Verfahren:
Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption. - Abhandlungen:
Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
3334 L 668 | 17.04.2012 - 14.07.2012 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Messtechnische Grundlagen WS 2011/2012
- Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
- Oszilloskope
- Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
- Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
3334 L 692 | 18.10.2011 - 14.02.2012 dienstags, 12 - 14 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Physikalische Analysenverfahren SS 2011
- Verfahren:
Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption. - Abhandlungen:
Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
3334 L 668 | 19.04.2011 - 12.07.2011 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Messtechnische Grundlagen WS 2010/2011
- Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
- Oszilloskope
- Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
- Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
3334 L 692 | 19.10.2010 - 15.02.2011 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Physikalische Analysenverfahren SS 2010
- Verfahren:
Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption. - Abhandlungen:
Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
3334 L 668 | 20.04.2010 - 17.07.2010 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Messtechnische Grundlagen WS 2009/2010
- Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
- Oszilloskope
- Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
- Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
3334 L 692 | 13.10.2009 - 13.02.2010 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Physikalische Analysenverfahren SS 2009
- Verfahren:
Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption. - Abhandlungen:
Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
3334 L 668 | 21.04.2009 - 18.07.2009 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Messtechnische Grundlagen WS 2008/2009
- Historische und moderne Messgeräte für Ströme und Spannungen, inkl. Funktionsweise von AD-Wandlern
- Oszilloskope
- Vom Transistor über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, BoxCar, ...
- Sensoren für Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung, Durchflussmengen, ...
0334 L 692 | 14.10.2008 - 10.02.2009 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Physikalische Analysenverfahren SS 2008
- Verfahren:
Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonde, Elektronensonde, AES, ESCA, Röntgenfluoreszens, Atomabsorption. - Abhandlungen:
Physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele.
3334 L 668 | 15.04.2008 - 19.07.2008 dienstags, 14 - 16 Uhr | Raum KWT 107 | Dr. Berger |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
0231 L 101 | 20.01.2014 - 24.01.2014 | Raum TEM 1 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
0231 L 101 | 13.01.2014 - 17.01.2014 | Raum KWT 01b | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
0231 L 101 | 06.01.2014 - 10.01.2014 | Raum KWT 106 | Fahrenson |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
0231 L 101 | 21.01.2013 - 25.01.2013 | Raum TEM 1 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
0231 L 101 | 14.01.2013 - 18.01.2013 | Raum TEM 3 | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
0231 L 101 | 07.01.2013 - 11.01.2013 | Raum KWT 09 | Nissen |
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | SS 2013 | Raum KWT 10 | Berger Nissen |
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Qualitative und quantitative Analyse
- Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
- Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
- Elektronenbilder
3334 L 694 | WS 2012/13 | Raum KWT 01 | Berger Nissen |
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | SS 2012 | Raum KWT 10 | Berger Nissen Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | WS 2012/13 | Raum KWT 10 | Berger Nissen Gernert |
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Qualitative und quantitative Analyse
- Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
- Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
- Elektronenbilder
3334 L 694 | 2012 ganztägig | Raum KWT 01 | Berger Galbert |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
0231 L 101 | 23.01.2012 - 27.01.2012 | Raum TEM 1 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
0231 L 101 | 16.01.2011 - 20.01.2011 | Raum TEM 3 | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
0231 L 101 | 09.01.2012 - 13.01.2012 | Raum KWT 09 | Nissen |
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2011
Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.
Termin: 14. bis 18. November 2011
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | 04.04.2011 - 05.04.2011 | Raum KWT 10 | Berger Nissen Gernert |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
3231 L 101 | 24.01.2011 - 28.01.2011 | Raum TEM 1 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
3231 L 101 | 17.01.2011 - 21.01.2011 | Raum TEM 3 | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
3231 L 101 | 10.01.2011 - 14.01.2011 | Raum KWT 09 | Nissen |
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2010
Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.
Termin: 15. bis 19. November 2010
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | 22.3.2010 - 23.3.2010 | Raum KWT 10 und KWT 07 | Berger Nissen Gernert |
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Qualitative und quantitative Analyse
- Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
- Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
- Elektronenbilder
3334 L 694 | 15.03.2010 - 19.03.2010 ganztägig | Raum KWT 01 | Berger Galbert |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
3231 L 101 | 18.01.2010 - 22.01.2010 | Raum KWT 01 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
3231 L 101 | 11.01.2010 - 15.01.2010 | Raum KWT 07 | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
3231 L 101 | 04.01.2010 - 08.01.2010 | Raum KWT 09 | Nissen |
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Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" 2009
Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ fand der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der ZELMI statt.
Termin: 16. bis 20. November 2009
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | 12.03.2009 -13.03.2009 | Raum KWT 10 und KWT 07 | Berger Nissen Gernert |
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Qualitative und quantitative Analyse
- Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
- Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
- Elektronenbilder
0334 L 694 | 16.03.2009 - 27.03.2009 ganztägig | Raum KWT 01 | Berger Galbert |
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Transmissionselektronenmikroskopie (TEM)
- Aufbau des TEM
- Abbildungsentstehung, Hellfeld- und Dunkelfeldabbildung, Bildkontraste, Elektronenbeugung
- Probenpräparation
0231 L 101 | 19.01.2009 - 23.01.2009 | Raum KWT 01 | Berger |
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Energiedispersive Röntgenmikroanalyse (EDS)
- Physikalische Grundlagen:
Röntgenspektren; Halbleiterdetektor; Escape-Peak; Pulse Pileup - Auswertung:
Bremsstrahlungsuntergrund; Peakentfaltung; Quantitative Analyse - Linescan; Röntgenverteilungsbilder
- Instrumentelles
0231 L 101 | 12.01.2009 - 16.01.2009 | Raum KWT 07 | Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie (REM)
- Apparative Komponenten:
Elektronenkanone; Elektronenlinsen; Rastereinheit; Detektorsystem - Wechselwirkung der Elektronen mit dem Festkörper:
Rückstreuelektronen; Sekundärelektronen; absorbierter Strom; Röntgenstrahlen - Bilderstellung
0231 L 101 | 05.01.2009 - 09.01.2009 | Raum KWT 09 | Nissen |
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Scanning electron microscopy and Xray analysis
3536 L 490 | 26.11.2008 / 10.12.2008 | Raum KWT 10 und KWT 07 | Nissen Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie für Biotechnologen
3237 L 285 | 17.11.2008 - 18.11.2008 | Raum KWT 10 und KWT 07 | Berger Nissen Gernert |
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Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikroanalyse für Geowissenschaftler (Teil 2)
0632 L 905 | 15.09.2008 - 16.09.2008 | Raum KWT 10 und KWT 106 | Berger Nissen Gernert Galbert |
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Mikroanalyse mit der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Grundlagen und Anwendung der Elektronenstrahl-Mikrosonde
- Qualitative und quantitative Analyse
- Punktmessungen; Linienanalyse; Flächenanalyse; Röntgenverteilungsbilder
- Kristallspektrometer; Energiedispersive Spektrometer
- Elektronenbilder
0334 L 694 | 25.02.2008 - 07.03.2008 ganztägig | Raum KWT 01 | Berger Galbert |
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