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TU Berlin

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Tagungsbeiträge

Tagungsbeteiligungen der ZELMI mit folgenden Forschungsarbeiten:

  • Dirk Berger, Ulrich Gernert, Irene Preuß, Jörg Nissen, Sören Selve, Christoph Fahrenson, Jan Simke
    Managing and Financing of the Center for Electron Microscopy (ZELMI)
    Vortrag IMC2018
  • Asmus Meyer-Plath, Nico Dziurowitz, Carmen Thim, Ulrich Gernert
    High-frequency noise artefacts in scanning microscopy – Identification and mitigation
    Vortrag IMC2018
  • Dirk Berger, Martin Ritter
    The German Network of Electron Microscopy Groups (IGEME)
    Vortrag IMC2018
  • Tolga Wagner, Dirk Berger, Ines Häusler
    Towards High-Frequency Electrical Specimen Stimulation for Time-Resolved Electron Microscopy
    Vortrag IMC2018
  • Dirk Berger, Michael Lehmann
    Constructional Prerequisites for a Building for Electron Microscopes in Berlin’s Inner City
    Poster IMC2018
  • Jan Simke, Xiaojia Zhao
    TEM monitoring of newly modified MOF structures for OER and HER
    Poster IMC2018
  • Grigore Moldovan, Wolfgang Joachimi, Uwe Grauel, Jörn Six, Fabian Sielaff, Rico Greiner, Dirk Berger, Henry Romanus, Sören Selve 
    A comparative study of customized and standard STEM electronics
    Poster IMC2018
  • Dirk Berger, Matthias Hemmleb, Wolfgang Joachimi, Grigore Moldovan
    In situ Height Measurement with a 4Q-BSE Detector of FIB Produced Structures
    Poster IMC2018
  • Jörg Nissen, Dirk Berger
    Investigations of the quantitative analytical depth resolution of field emission electron probe microanalysis 
    Poster IMC2018
  • Sören Selve, Stefanie Kühl, H. Heyen, Peter Strasser
    TEM ex situ and in situ heating study on shape stability of octahedral PtNi nanocatalysts 
    Poster IMC2018
  • M. Saeglitz, A. Winkler, F. Kiss und D. Berger
    Resistance Spot Welding of Aluminum-Steel JointsUsing Modern Medium-Frequency Inverter Technique (MFDC)
    2018 Vortrag Materials Science Engineering 2018
  • M. Säglitz, M. Hartmann, O Piskin, J. Nissen
    Untersuchungen zur Wasserstoffkorrosion an zugspannungsbehafteten Stahlblechen aus martensitischem 22MnB5
    50. Mettallographie-Tagung (DGM) Berlin 2018
  • Dirk Berger, Grigore Moldovan, Matthias Hemmleb
    An application example for in situ height measurements of FIB produced structures
    Poster EUFN2018
  • M.D. Suttle, C. Sager, J. Nissen, M.J. Genge, D. Berger, A. Airoa, J. Feige
    Preparing micrometeorites for cosmogenic 26Al and 10Be measurement - identification without significant mass loss
    JFNIC2018
  • Laura Meißner, Michael Lehmann, Dirk Berger, Tore Niermann
    Dynamical Effects on the Geometric Phase
    M&M 2018
  • M. Saeglitz, D. Berger , F. Kiss, A. Winkler
    Resistance Spot Welding of Aluminum-Steel Joints Using
    Modern Medium-Frequency Inverter Technique (MFDC)

    MSE2018
  • Dirk Berger, Sören Selve, Udo Hoempler, Laura Meissner
    Advanced TEM-Lamella Preparation with FIB/SEM
    Poster EMC2017
  • Ulrich Gernert, Dirk Berger
    SEM / EDX with silicon nitride window: better surface sensitivity and new analytical capabilities
    Poster EMC2017
  • Jörg Nissen, Dirk Berger
    Investigations of the quantitative lateral analytical resolution at metal layers with a field emission electronprobe microanalyser
    Poster EMC2017
  • Dorothee Ecckert, Laura Meissner, Dirk Berger, Tore Niermann, Michael Lehmann
    Strain analysis of InGaAs/GaAs quantum dots  
    Poster EMC2017
  • Udo Hömpler, Dirk Berger, Tore Niermann, Michael Lehmann
    Towards on-chip in-situ biasing of FIB/SEM-prepared TEM-lamellas
    Poster EMC2017
  • Dirk Berger, Matthias Hemmleb
    Calculation of Topography independent Backscattering Coefficient from 4 Quadrant BSE Detector
    Poster EMC2017
  • John Moré, Nico Dziurowitz, Carmen Thim, Matthias Hemmleb, Dirk Berger
    Relocation of defined sample positions with an automated stage navigation tool for SEM
    Poster EMC2017
  • M. Hemmleb, D. Bettge, D. Berger, I. Driehorst
    3D Surface reconstruction with segmented BSE detector: New improvements and application for fracture analysis in SEM
    Posterbeitrag EMC0216 Lyon
  • M. Hemmleb, D. Berger
    Focused ion beam fabrication of defined scalable roughness structures
    Posterbeitrag EMC2016 Lyon
  • J. Nissen, D. Berger
    Measurements of the quantitative lateral analytical resolution at evaporated aluminium-layers with the FEG-EPMA JEOL JXA-8530F
    Posterbeitrag EMC2016 Lyon
  • U. Gernert, D. Berger
    Depth Resolution and surface sensitivity with the multiple detection system of a HR-SEM
    Posterbeitrag EMC 2016 Lyon
  • S. Selve, D. Berger
    Manufacturing and application of a 2 µm dark field aperture in TEM
    Posterbeitrag EMC2016 Lyon
  • C. Fahrenson, F. Gensch, S. Gall, D. Berger
    EBSD measurements on the weld seam area of differently extruded ME21 hollow profiles
    Posterbeitrag EMC2016 Lyon
  • T. Wagner, T. Niermann, D. Berger, L. Blacha, M. Lehmann
    Concepts for an electrostatic phase shifting device
    Posterbeitrag EMC2016 Lyon
  • M. Hemmleb, D. Berger, T. Dziomba
    Flexible fabrication of defined scalable roughness structures with Focused Ion Beam (FIB)
    Posterbeitrag Nanoscale2016 Wroclaw
  • J. Nissen, D. Berger
    Measurements of the Quantitative Lateral Analytical Resolution at Evaporated Aluminium-Layers with the FEG-EPMA JEOL JXA-8530F
    Posterbeitrag EMAS 2016 Regional Workshop
  • M. Hemmleb, D. Berger, T. Dziomba
    Fabrication of defined roughness structures with Focused ion Beam
    Posterbeitrag FIB-Workshop 2016 der EMS in Brno
  • J. Nissen, D. Berger
    Measurements of the lateral quantitative Resolution of electronprobe microanalysers with field Emission source
    Posterbeitrag MC2015 Göttingen
  • U. Gernert, D. Berger, M. Hemmleb
    Topographic contrast of HR-SEM
    Posterbeitrag MC2015 Göttingen
  • I. Driehorst, V. Sanabria, C. Fahrenson
    EBSD-measurements of high shear zones of Aluminium alloy AA6060
    Posterbeitrag MC2015 Göttingen
  • U. Hömpler, F. Kießling, T. Niermann, D. Berger, M. Lehmann
    Electrical characterization of ion beam deposited Pt-wires
    Posterbeitrag MC2015 Göttingen
  • M. Säglitz, S. Walther, G. Creter, D. Berger
    Metall-Schutzgaslöten von höchstfesten Stählen mit CuSi3-Zusatzwerkstoff
    Vortrag auf der Metallografie-Tagung 2015 in Dresden
  • J. Nissen, D. Berger
    MEASUREMENTS OF THE QUANTITATIVE LATERAL ANALYTICAL RESOLUTION AT SPUTTERED GOLD-LAYERS WITH THE FEG-EPMA JEOL JXA-8530F
    Vortrag und Poster auf dem EMAS Workshop 2015 in Portoroz (Slowenien), Mai 2015
  • J. Nissen, D. Berger, A. Epishin, T. Link, J. Midtlyng
    EPMA measurement of concentration profileS IN diffusion couples of NI- and CO-BASE alloys
    Poster auf dem EMAS Workshop 2015 in Portoroz (Slowenien), Mai 2015
  • E. Ortel, R. Kraehnert, F. Galbert, V.-D. Hodoroaba
    Determination of porosity of highly porous thin films by combined SEM-EDS Analysis
    Poster auf dem EMAS Workshop 2015 in Portoroz (Slowenien), Mai 2015
    2. Posterpreis
  • J. Nissen, D. Berger
    WDX-Analysis using Lß-lines
    Posterbeitrasg auf dem JEOL Mikrosonden User-Meeting 2014 in Witten, Oktober 2014
  • Henkel, S.;Pudlo, D.;Werner, L.;Gillhaus, A.;Ganzer, L.;Reitenbach, L.;Albrecht, D.;Nissen, J.;Abratis, M.;Gaupp, R.
    On the occurence of carbonate ooids and cements in Buntsandstein of the Emsland Through /NWGermany
    GeoFrankfurt 2014, Frankfurt, Germany 21.-24.9.2014
  • Henkel, S.;Pudlo, D.;Enzmann, F.;Eusterhues, K.;Abratis, M.;Nissen, J.;Albrecht, D.; Reitenbach, D.;Gaupp, R.;Ganzer, L.
    The behaviour of H2 and CO2 in siliciclastic reservoirs during energy/hydrogen storage
    92th AnnualMeeting DMG 2014, Jena, Germany 21.-24.9.2014
  • D. Berger, U. Gernert
    Physical Background of multiple detection possibilities of the Hitachi SU8030 SEM
    Posterbeitrag auf der IMC2014 in Prag
  • J. Nissen, D. Berger, A. Epishin, T. Link
    WDX-Measurements of Ta-, W- and Re-concentration profiles in a Nickel/Superalloy Diffusion couple using Lß-X-ray-lines
    Posterbeitrag auf der IMC2014 in Prag
  • C. Fahrenson, M. Lentz, B. Camin, I. Driehorst, R.S. Coelho, D. Berger
    EBSD measurements of the Twinning Process in an Mg-4wt%Li-Alloy with an in-situ Tensile / Compression Module in the SEM DSM 982
    Posterbeitrag auf der IMC2014 in Prag
  • Säglitz, Mario; Creter, G.; Günther, T.; Nissen, J.
    Charakterisierung von widerstandspunktgeschweißten Aluminium-Stahl-Schweißlinsen
    HärtereiKongress 9.-11. Oktober 2013, Wiesbaden
  • C.E. Tommaseo, G. Franz; W. Reimers; J. Nissen, R. Nowak; J.Bednarcik, M. Zimmermann; J. Oddeershede; B. Schwebke; H.G.Brokmeier, M. Gorgoi, R. Ovsyannikov
    A study of structural and microstructural development during deformation and/or recrystallization processes taking place in natural and synthetic polycrystalline halite
    Poster bei der Goldschmidt Conference 2013 in Florenz, August 2013
  • Jörg Nissen; Dirk Berger
    Beam size and analytical resolution of the FEG-EPMA JEOL JXA-8530F
    Poster bei der MC 2013 in Regensburg
  • Jörg Nissen, Dirk Berger
    Measurement and Monte Carlo Simulation of the spatial resolution in element analysis with the FEG-EPMA JEOL JXA-8530F
    Vortrag und Poster auf dem EMAS Workshop 2013 in Porto (Portugal), Mai 2013
  • Berger, D.; Günther, Ch.; Müller, S.; Selve, S.; Eisebitt, S.
    Reduction of FIB-induced nanocrystallisation for constant material removal rates in nanomachining
    Poster bei der EMC 2012 in Manchester
  • Selve, S.; Hasché, F.; Oezaslan, M.; Berger, D.; Strasser, P.
    TEM characterization of highly active and stable PEM fuel cell nanoparticle catalysts
    Poster bei der EMC 2012 in Manchester
  • Dirk Berger
    Die Feldemissionsmikrosonde JXA‐8530F @ ZELMI der TU Berlin
    Vortrag auf dem JEOL Mikrosonden User-Meeting 2012 in Göttingen, Oktober 2012
  • Jörg Nissen
    High spatial resolution analysis with the Field Emission Electron Probe Microanalyser (FE-EPMA) JEOL JXA-8530F
    Poster beim EMAS Workshop 2012 in Padua (Italien), Juni 2012
  • Säglitz, M.; Gernert, U.; Selve, S.; Berger, D.
    Untersuchung der Mikro- und Nanostruktur von hochfestem bor-legiertem Stahl für den Automotive Bereich mitels FE-REM, TEM und STEM
    45. Metallographie-Tagung 2011
  • Dirk Berger, Francois Galbert
    Elemental composition and density measurements of FIB-deposited platinum layers
    Poster bei der MC 2011 in Kiel
  • Ulrich Gernert
    Pile-up correction of EDX spectra collected with a silicon drift detector (SDD) at high count rates - a users view
    Poster bei der MC 2011 in Kiel
  • Selve, S.; Berger, D.; Gernert, U.; Säglitz, M.
    Comparative study of microstructural details of press hardened low-carbon boron steel unsing HR FE-SEM, STEM and TEM
    Poster bei der MC 2011 in Kiel
  • Jörg Nissen, Francois Galbert
    Quantitative Element Analysis with Micro X-Ray Fluorescence (µXRF) in Comparison with EPMA Measurements
    Poster bei der MC 2011 in Kiel, September 2011
  • Selve, S.; Berger, D.; Frey, Ch.; Lachmann, L.
    Manufacturing and application of individually adapted SAD apertures for a conventional Tecnai G220 TEM
    Poster bei der MC 2011 in Kiel, September 2011
  • Jörg Nissen
    Quantitative Elementanalyse mit Standards mit iMOXS-Quant (Vers. 2.56)
    Vortrag auf dem Microfocus-Röntgenquelle iMOXS-Interessententreffen in Bruchsal, Oktober 2010
  • Mario Säglitz, U. Gernert, K.Bake
    Charakterisierung von Gefügestruktur und mechanischen Eigenschaften eines warmgeformten,partiell gehärteten, borlegierten Stahls mit niedrigem Kohlenstoffgehalt
    Tagungsbericht vom 66. Härtereikolloquium, AWT e.V., Wiesbaden, Oktober 2010
  • Ulrich Gernert
    Verbesserung der Nachweisempfindlichkeit leichter Elemente mittels Silizium Drift Detektor mit spezieller Röntgenoptik
    Vortrag beim Zeiss Gemini User Meeting in Bochum, August 2010
  • Mario Säglitz, K.Bake, U.Gernert
    Microstructure and Mechanical Properties in the Transition Zone of a Low Carbon Boron Steel after Partial Hardening
    Proceedings of the 50th anniversary Conference "Tools an Techn. for the Processing of Ultra High Strength Steels",Graz
    May-June 2010, ISBN 978-3-85125-108-1,pp91-100
  • Jörg Nissen
    Optimierung der Indizierungsrate an stranggepresstem Magnesium
    Vortrag auf dem DGM-DVM AK-Treffen "Mikrostrukturuntersuchungen im REM"
    in Augsburg, April 2010
  • M.Säglitz, G.Krauss, U.Gernert
    Korrelation von Gefüge und mechanischen Eigenschaften eines höchsfesten borlegierten Stahls für den Automotivebereich
    Poster für den "Tag der Forschung 2009", Hochschule Darmstadt, November 2009
  • Dieter Pudlo, Ulrike Hilse, Reinhard Gaupp, Ulrich Gernert
    Genesis and alteration of volcanic lithoclasts in Rotliegend deposits in central Germany
    Vortrag auf der GeoDresden 2009, Oktober 2009
  • Mario Säglitz, George Krauss, Ulrich Gernert, Sebastian Grimm
    Einfluss der Gefügestruktur auf die mechanischen Eigenschaften eines abgeschreckten
    und angelassenen borlegierten Stahls mit niedrigem Kohlenstoffgehalt
    Vortrag auf der HK 2009, 65. Kolloquium für Wärmebehandlung, Oktober 2009
  • Andrea Herre, Fritzi Lang, Jörg Prietzel, Jürgen Thieme, Ulrich Gernert, Martin Kaupenjohann
    Relevanz von basischen Aluminiumsulfaten für die S-Retention durch Allophan
    Vortrag auf der Jahrestagung der Deutschen Bodenkundlichen Gesellschaft in Bonn, Sept. 2009
  • Jörg Nissen, Jens Bartoll
    SEM/EDX-Analysis of a Portrait of Joachim II. Elector of Brandenburg (1505-1571) by Lukas Cranach the Younger
    Poster bei der MC 2009 in Graz
  • S. Selve, D. Berger
    Structural characterization of Si-nanowires using a 200 kV LaB6 TEM
    Poster bei der MC 2009 in Graz
  • Ulrich Gernert, David O'Hara, Don Kloos, Marco Mostert
    Improving EDS for Light Elements using an attachable X-ray Optics with an SDD in SEM
    Poster bei der MC 2009 in Graz
  • D. Berger, M. Hemmleb
    4-Quadrant-large-angles-BSE-Analysis: Problems and Approaches for quantitative 3D-Surface Reconstruction
    Poster bei der MC 2009 in Graz
  • F. Galbert, D. Berger
    Quantitative analysis of nanoparticles with EPMA
    Poster bei der MC 2009 in Graz
  • Ulrich Gernert
    Aufbau und Funktionsweise von EDX-Systemen mit konventioneller Si(Li)- und stickstofffreier SDD-Technologie
    Vortrag auf dem Seminar "Mikroanalyse in der Elektronenmikroskopie" der Fa. remX GmbH in Bruchsal, April 2009
  • Dirk Berger; M. Ritter; M. Hemmleb; G. Dai; T. Dziomba
    A new quantitative height standard for the routine calibration of a 4-quadrant-large-angles-BSE-detector
    Poster bei der EMC 2008 in Aachen
  • Ulrich Gernert; I. Preuss
    Comparing the Si(Li)-detector and the silicon drift detector (SSD) using EDX in SEM
    Poster bei der EMC 2008 in Aachen
  • Francois Galbert; D. Berger
    Thickness and composition measurement of thin TEM samples with EPMA and the thin film analysis software STRATAGem
    Poster bei der EMC 2008 in Aachen
  • Jörg Nissen; Dirk Berger; B. Kanngießer; I. Mantouvalu; T. Wolff
    Characterization of the focusing properties of polycapillary X-ray lenses inthe scanning electron microscope
    Poster bei der EMC 2008 in Aachen
  • Lange Nacht der Wissenschaften Juni 2008 - 773 Besucher
  • Dirk Berger
    Characterization of a 4-Quadrant-Large-Angle-BSE-Detector for in-situ 3D Quantitative Analysis of a Sample Morphology in SEM
    Poster bei der MS 2007 in Saarbrücken
  • Ulrich Gernert; Irene Preuß; Sabine Plitzko
    Determination of Personal Exposure by Nanoparticles using FEG-SEM
    Poster bei der MC 2007 in Saarbrücken
  • Francois Galbert
    Measurement of Carbon Layer Thickness with EPMA and Thin Film Analysis Software StrataGem
    Poster und Vortrag bei der MC 2007 in Saarbrücken
  • Jörg Nissen; Sven Gall; Walter Reimers
    Characterization of Stress Corrosion  Cracking of Cold Deformed Brass Alloy (CuZn37) using EBSD
    Poster bei der MC 2007 in Saarbrücken
  • Lange Nacht der Wissenschaften Juni 2007 - 478 Besucher
  • Galbert, Francois
    Messung der Kohlenstoff-Schichtdicke mit der Mikrosonde und dem Dünnschicht-Analysenprogramm StrataGem 2.8
    Camus - Workshop in Aachen   März 2007
  • Lange Nacht der Wissenschaften Mai 2006 - 315 Besucher
  • Lange Nacht der Wissenschaften Juni 2005 - 166 Besucher
  • Berger, Dirk; Nissen, Jörg
    EBSD-Orientierungsmessungen an Stahlsaiten
    EBSD Operators School bei HKL, Hobro, DK Oktober 2004
  • Berger, Dirk
    Erwartungen an ein modernes EBSD-System
    DVM-DGM Arbeitskreis "Mikrostrukturcharakterisierung am Rasterelektronenmikroskop März 2004
  • Galbert, Francois
    Analyse quantitative de petites particules
    SAMux - Workshop in Paris - Elektronenstrahl-Mikroanalyse einschl. Dünnschichtanalytik Dezember 2001
  • Helfmeier, Heinrich
    Schichtdickenmessungen mit StrataGem an Gold- und Kohlenstoffschichten auf verschiedenen Substraten
    Xmas - Workshop in Halle - Analytische Rasterelektronenmikroskopie Juli 2001
  • Helfmeier, H.
    Korrektur der quantitativen Analysenergebnisse für Probengrößen bis unter 1 µm
    Xmas - Workshop in Halle - Analytische Rasterelektronenmikroskopie - Juli 2001
  • Helfmeier, H.
    Quantitative Analyse sehr kleiner Partikel an ausgewähltem Olivinkristall
    Camus - Workshop in Wien - Elektronenstrahl-Mikroanalyse, Mai 2001
  • Galbert, F.
    Doit-on toujours acquérir témoins et échantillons dans les mêmes conditions?
    SAMux 1995 - Workshop in Paris Elektronenstrahl-Mikroanalyse Januar 1996
  • ZELMI
    Kontrastentstehung und Auswertung von REM-Bildern, quantitativer Analyse an Schadensfällen
    COMETT-Kurs (II) in Berlin, ZELMI-TUB - Elementmikrosanalyse zur Qualitätssicherung fester Stoffe September 1995
  • Helfmeier, H.
    Freie Elektronen als Anregungsmedium in der elektronenstrahlmikroanalyse (REM)
    COMETT-Kurs (I) in Kiel - Elementmikroanalyse zur Qualitätssicherung fester Stoffe Juni 1995
  • Helfmeier, Heinrich
    Einsatz verschiedener Hochspannungen für Messungen an der Elektronenstahl-Mikrosonde mit Xmas-PAP
    Camus - Workshop in Baden April 1995
  • Hafner, L.; Wendering, R.; Gernert, U.; Helfmeier, H.
    Studies on damaged needles of Scotch Pine Trees from forest dieback area in Berlin
    Symposium on solid State Mass spectrometry in Tbilisse/Georgia UDSSR 1990
  • Helfmeier, Heinrich Ulrich
    Einsatz einer Kryopumpe an der Elektronenstrahlmikrosonde
    Mikrosonden-Meeting Frankfurt/Main 1983

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