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TU Berlin

Inhalt des Dokuments

TEM Laborpraktikum 2018

Das nächste TEM-Laborpraktikum findet in Kooperation mit der AG Lehmann vom 5. - 16.3.2018 statt.

 

 

Wahl zum Rat der ZELMI

Am 23.1.2018 findet die Wahl zum Rat der ZELMI statt.

Die Wahlunterlagen gehen allen Wahlberechtigten per Hauspost zu. Bitte senden Sie den Stimmzettel bis zum 23.1.18 an den Wahlvorstand.

Praktikum der Angewandten Physik

Vom 15.1. bis 2.2.2018 finden in der ZELMI die folgenden Versuchsteile des Praktikums zur LV Angewandte Physik statt:

  1. Rasterelektronenmikroskopie SEM
  2. Energiedispersive Röntgenanalytik EDX
  3. Transmissionselektronenmikroskopie TEM

Zum Jahresende

Lupe

Die ZELMI dankt allen NutzerInnen und PartnerInnen für das entgegengebrachte Vertrauen und die gute Zusammenarbeit in 2017!

Wir wünschen Ihnen schöne Weihnachtsfeiertage und alles Gute für 2018!

 

 

Berliner FIB-Operator-Treffen

Am

12.12.2017 ab 15:00

findet an der ZELMI das erste Treffen der Bediener von FIBs statt, um sich über die Bedienung und die Wartung auszutauschen.

Bitte registrieren Sie sich bei Interesse unter

dirk.berger@tu-berlin.de

 

 

Vorlesung und Übung Mikroskopie

Wintersemester 2017/2018

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie" (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester wieder in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Beginn der Vorlesung ist am 18.10.17 um 12:15 im Raum KWT107

Beginn der Übung ist am 25.10.17 um 14:00 im Raum KWT107

5. Treffen des DGE-Arbeitskreises IGEME

Das 5. Treffen des DGE-Arbeitskreises "Interessensgemeinschaft elektronenmikroskopischer Einrichtungen (IGEME)" findet statt:

am 29.9.2017

um 9:00

im Gemeinschaftslabor für Elektronenmikroskopie (GFE) der RWTH Aachen.

 

Am Anmeldung wird gebeten bei Dirk Berger (Kontakte siehe rechts oben).

Jahresendtrophäen

Lupe

Verleihung der Jahresendtrophäen für besondere Beiträge im TEAM ZELMI 2017 ;-)

 

 

 

Vorlesung und Übung "Mikroskopie"

Wintersemester 2016/2017

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie" (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester wieder in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Beginn der Vorlesung ist am 19.10.16 um 12:15 im Raum KWT107

Beginn der Übung ist am 26.10.16 um 14:00 im Raum KWT107

4. Treffen des DGE-Arbeitskreises IGEME

Das 4. Treffen des DGE-Arbeitskreises "Interessensgemeinschaft elektronenmikroskopischer Einrichtungen (IGEME)" findet statt:

am 20.9.2016

um 9:30

in der Betriebseinheit Elektronenmikroskopie der TU Hamburg (TUHH).

 

Am Anmeldung wird gebeten bei Dirk Berger (Kontakte siehe rechts oben).

EMC 2016

Vom 28.8. bis 2.9.2016 findet in Lyon die

16. Europäische Mikroskopie Konferenz (EMC2016)

statt,

auf der die ZELMI mit 7 Posterbeiträgen und 1 Workshop-Vortrag vertreten ist.

 

www.emc2016.fr

Nutzertreffen der ZELMI am 3. Juni 2016

Erstes Nutzertreffen der ZELMI

Lupe

am 3. Juni 2016

9:00 - 16:30 Uhr

Hörsaal ER 164

 

An diesem Tag haben wir die bestehenden und die neuen Analysenverfahren der ZELMI vorgestellt, sowohl den neuen als auch den bisherigen Arbeitsgruppen der TU-Berlin. Ferner haben die Nutzer Ihre Forschung durch Poster präsentiert.

 

Die Tagesordnung kann hier angesehen werden.

.

 

 

 

Firmenlauf 2016

Auch beim diesjährigen Firmenlauf waren ZELMI-Mitarbeiter erfolgreich vertreten.

https://www.pressestelle.tu-berlin.de/fileadmin/a70100710/TU_intern/Bilder/2016_06_01_Firmenlauf7.psd.jpg

Posterpreis auf der Microscopy Conference in Göttingen

Poster award Göttingen 2015
Lupe

Auf der MC 2015 in Göttingen wurde das Poster "Topographic contrast of HR-SEM" von Ulrich Gernert mit dem Posterpreis ausgezeichnet.

Herzlichen Glückwunsch !

Vorlesung Mikroskopie

Wintersemester 2015/2016

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester wieder in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Beginn der Vorlesung ist 15.10.15 um 12:15

Treffen der elektronenmikroskopischen Einrichtungen

Das dritte Treffen der elektronenmikroskopischen Einrichtungen findet statt
am 30.10.2015
am ZMN der TU Ilmenau, Dr. Henry Romanus.

Auf diesen Treffen wird der Arbeitskreis "Interessengemeinschaft elektronenmikroskopischer Einrichtungen" der DGE gegründet werden.


Anmeldungen bei Dirk Berger (Kontakte siehe rechts oben) werden erbeten.

After-Work-Cup 2015

Donnerstag, 02. Juli 2015

Team ZELMI
Lupe

Als "TEAM ZELMI" traten Dirk, Iryna, Irene, Jan und Sören (v.l.n.r.)  beim After-Work-Cup 2015 an. Mit satten 2,94 m war unser in 15 min aus Reststoffen gebauter Turm der höchste von allen. Vorbild war natürlich unser TEM.

Zusammen mit den Ergebnissen aus den weiteren Spielrunden reichte das für den vierten Platz.

Wir freuen uns auf das nächste Jahr!

Lange Nacht der Wissenschaften 2015

Haus der Elektronenmikroskopie II - KWT-Altbau
Lupe

In zwei Häusern der Elektronenmikroskopie zeigten wir unsere Geräte. Der Besucheransturm war kontinuierlich und die Besucherzahl ausgeglichen (TEM - Haus der Elektronenmikroskopie I = 430 Besucher; KWT-A - Haus der Elektronenmikroskopie II = 427 Besucher).

Bis spät in die Nacht war der Eingang der ZELMI von weitem gut zu erkennen.

Alles hielt sogar den starken Regenschauern stand.

Berliner Firmenlauf

Lupe

Am 12. Juni 2015 starteten Dirk, Uli, Jörg und Iryna als Vertreter der ZELMI beim Berliner Firmenlauf und trugen zum erfolgreichen Sieg der TU-Berlin bei.

Treffen der elektronenmikroskopischen Serviceeinrichtungen

Das zweite Treffen der elektronenmikroskopischen Serviceeinrichtungen findet statt

am 26.6.2015

am Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), Prof. Dr. Erdmann Spiecker.

Anmeldungen bei Dirk Berger (Kontakte siehe rechts oben) werden erbeten.

Posterpreis

Lupe

Ein Poster unter Ko-Autorenschaft der ZELMI hat den 2. Posterpreis auf dem diesjährigen Workshop der European Microbeam Analysis Society (EMAS) gewonnen:

" Determination of porosity of highly porous thin films by combined SEM-EDS Analysis"

E. Ortel, R. Kraehnert, F. Galbert, V.-D. Hodoroaba

Insgesamt war die ZELMI mit 3 Posterbeiträgen und einem eingeladenen Kurzvortrag vertreten.

Lange Nacht der Wissenschaften 2015

Die ZELMI beteiligt sich wieder an der langen Nacht der Wissenschaften am 13.6.2015.

Zusammen mit der AG-Lehmann werden in den "Häusern der Mikroskopie" insgesamt 8 Projekte angeboten.

Weitere Info unter www.lndw.tu-Berlin.de

Praktikum Elektronenstrahl-Mikrosonde

Vom 16.3. bis 27.3.2015 findet in der ZELMI wieder das Praktikum an der Elektronenstrahl-Mikrosonde statt. Anmeldungen bitte unter

Weihnachts- und Neujahrsgruß

Feuerwerk der Ga-Ausscheidungen auf Si hergestellt mit der FIB - ZELMI-TUB
Lupe

Wir wünschen allen ZELMI-Kunden - Firmenmitarbeitern - Kollegen mit Familien ein schönes Weihnachtsfest und alles Gute für das Jahr 2015 !

Treffen der elektronenmikroskopischen Serviceeinrichtungen

Am 5.12.14 findet in der ZELMI das erste Treffen der elektronenmikroskopischen Serviceeinrichtungen statt. Dieses Treffen dient dem informellen Austausch über Fragen der Leitung und Organisation von Serviceeinrichtungen.

Ort: KWT 107

Zeit: 10:30 - 16:30

Um Anmeldung wird gebeten. 

 

 

Vorlesung Mikroskopie

Wintersemester 2014/2015

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester wieder in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Wir trauern:

Dr. Heinrich Helfmeier
Lupe

Die Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) trauert um

Priv. Doz. Dr. Heinrich Helfmeier

* 26.08.1938        † 14.11.2014

Priv. Doz. Dr. Heinrich Helfmeier war von 1978 bis zu seiner Pensionierung im Jahr 2004 Leiter der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie (ZELMI) der TU Berlin. Seine Vision einer zentralen Serviceeinrichtung für Elektronenmikroskopie konnte er im Jahre 1978 nach der Zusammenlegung zweier elektronenmikroskopischer Labore verwirklichen. Durch sein organisatorisches Talent und mit eigener Tatkraft hatte er die ZELMI schnell zu einem effizienten Dienstleistungslabor ausgebaut, das unter den wissenschaftlichen Mitarbeitern der TU Berlin schnell einen exzellenten Ruf genoss. Optimierungen und Erweiterungen der bestehenden Anlagen und Analysenverfahren hatte er aufgrund seines enormen Fachwissens selbst initiiert und ausgeführt. Sein Augenmerk lag dabei auch auf der Aus- und permanenten Weiterbildung der Mitarbeiter, die sowohl mit modernen wie mit etablierten Geräten optimale Ergebnisse erzielen können. Durch seine ansprechende Führungsart formte er eine bis heute bestehende und gut zusammenarbeitende Arbeitsgruppe.
Bis zu seiner Pensionierung hat er sich mit Vorlesungen und Praktika intensiv an der Lehre an der TU Berlin beteiligt.

Wir werden Heinrich Helfmeier ein ehrendes Andenken bewahren.
Wir trauern mit seinen Angehörigen.

                                   Ich habe dich bei deinem Namen gerufen; du bist mein!
                                                                                                      Jes. 43,1

Chemieraum

Chemie-Raum Gebäude KWT-A
Lupe

Nach 1,5 jähriger Dauer können wir den Umbau unseres Chemielabores nun genießen und mit neuen Platzmöglichkeiten die Präparation für die Untersuchungen durchführen.

Zum Neuen Jahr 2014

Lupe

Die Mitarbeiter der ZELMI wünschen allen Kunden und Partnern ein frohes Weihnachtsfest und alles Gute für das Neue Jahr.

Vorlesung "Mikroskopie"

Wintersemester 2013/2014

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester wieder in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Neuer Mitarbeiter

8. Juli 2013

Wir begrüßen ganz herzlich unseren neuen Mitarbeiter Jan Simke und freuen uns auf die Zusammenarbeit. Herr Simke ist für die Präparation von Proben für Untersuchungen am TEM FEI Tecnai G2 20 S-TWIN zuständig. Er tritt die Nachfolge von Frau Cordelia Lange an.

Lange Nacht der Wissenschaften 2013

Lupe
Lupe

Es war eine erfolgreiche Nacht.

Die ZELMI präsentierte sich und ihre Arbeit im KWT-Altbau und im TEM-Gebäude gemeinsam mit der AG Lehmann - IOAP.

Über 200 Besucher stürmten den KWT-Altbau, in dem wir unser REM-S4000, die Mikrosonde JXA-8530A und die Lichtmikroskopie zeigten. Im TEM-Gebäude informierten sich über 500 Besucher über das REM SU8030, das TEM Tecnai, die FIB Helios, das TEM Titan und die Präparationsmöglichkeiten.

Vorlesung "Mikroskopie"

Lupe

Wintersemester 2012/2013

Die Lehrveranstaltung "Mikroskopie (Vorlesung LV 3334 L 670 und Übung LV 3334 L 671) von Dr. Dirk Berger wird in diesem Semester erstmalig in der ZELMI gehalten. Inhalte der Lehrveranstaltung sind Lichtmikroskopie, Transmissions-elektronenmikroskopie und Rasterelektronenmikroskopie. Die Vorlesung ist Teil des Wahlpflichtmoduls "Untersuchungsmethoden des Masterstudiengangs Werkstoffwissenschaften".

Neuer Mitarbeiter

25.4.2012

Wir begrüßen ganz herzlich unseren neuen Mitarbeiter Christoph Fahrenson und freuen uns auf die Zusammenarbeit. Herr Fahrenson wird für die Rasterelektronenmikroskopie zuständig sein.

REM Hitachi S-4000

20.4.2012

Das REM Hitachi S-4000 ist wieder in den KWT-Altbau umgezogen und wird an diesem Standort demnächst wieder in Betrieb genommen.

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik"

Praktikum am SEM Hitachi S-4000
Lupe
Praktikum am TEM Tecnai G² 20 S-twin
Lupe
Praktikum am SEM Hitachi S-2700
Lupe

Zum dritten Mal fand erfolgreich im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ vom 14. bis 18. November 2011 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.

Neue Mitarbeiterin

24.10.2011

Wir begrüßen ganz herzlich unsere neue Mitarbeiterin Iryna Driehorst und freuen uns auf die Zusammenarbeit. Frau Driehorst wird im Bereich der Raster-elektronenmikroskopie tätig sein.

Neues Großgerät in der ZELMI

Lupe

12.10.2011

Für die hochaufgelöste Elementanalytik ist eine neue Elektronenstrahlmikrosonde vom Typ JEOL JXA-8530F am ZELMI-Standort KWT-Altbau in Betrieb genommen worden. Mit ihrer Feldemissionskathode und 5 wellenlängendispersiven Kristallspektrometern sollen  Analysen bei hoher lateraler Auflösung (<100 nm) und geringer Nachweisgrenze (einige 10 ppm) möglich werden.

Mit Unterstützung der Fakultät II wurde das EFRE-geförderte Projekt  durch eine Kooperation der ZELMI mit 14 Unternehmen und Forschungseinrichtungen aus dem Berliner Raum realisiert.

Einweihung Elektronenmikroskopie-Neubau

Am 20.10.2011 wird das neue Elektronenmikroskopiegebäude der TU Berlin eingeweiht, in dem 4 hochauflösende Elektronenmikroskope der ZELMI und der AG Lehmann aufgestellt sind.

www.tu-berlin.de/?id=108826

Stellenausschreibung in der ZELMI

16.06.2011

In der ZELMI ist die Stelle eines SEM-Operators zu besetzen!
Nähere Informationen unter:
www.personalabteilung.tu-berlin.de/fileadmin/abt6/archiv
/Stellenausschreibungen/externe_Stellenausschreibungen/Techn._Beschaeftigte(r)
/5930008.06.2011_Fak._II,_Inst._fuer_Optik_u._Atomare_Physik.pdf

oder bei
Dr. Dirk Berger, ZELMI

Die Bewerbungsfrist endet am 30.06.2011

Lange Nacht der Wissenschaften 2011

28.5.2011

Der Elektronenmikroskopie-Neubau (TEM) stand als "Haus der Mikroskopie" bei der diesjährigen Langen Nacht der Wissenschaften mit im Mittelpunkt. Über 750 Besucher fanden sich ein und auch die Präsidententour machte  Station.

8. TEM Präparatorentreffen

Das Treffen der TEM-Präparatoren aus dem Berliner/Brandenburger Raum findet dieses Jahr am
14.4.2011 von
9:30 - 16:00 im
KWT 107
erstmalig an der TU-Berlin statt. Derzeit sind 35 Teilnehmer angemeldet, um sich über neueste Ergebnisse und Probleme bei der TEM-Präparation zu informieren und auszutauschen.

Vorlesung Physikalische Analyseverfahren

Ab 19.04.2011 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (<acronym title="Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie">ZELMI</acronym>)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der <acronym title="Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie">ZELMI</acronym> und am GFZ Potsdam

LNDW Haus der Mikroskopie

Lupe

Die ZELMI ist an der LNDW im Haus der Mikroskopie zusammen mit dem Fachgebiet "Elektronenmikroskopie und -holografie" mit 7 Projekten beteiligt. Näheres kann den Informationen der LNDW entnommen werden.

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik" (Kopie 1)

Praktikum am TEM
Lupe

Zum zweiten Mal fand erfolgreich im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ vom 15. bis 19. November 2010 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.

Erstes Praktikum im Neubau

TEM-Praktikum
Lupe

Das TEM-Praktikum für die TBF-Metallografie WS 2010 hat in den modernen Laborräumen des Neubaus begonnen.

Kundenbetrieb am S-4000 wieder aufgenommen

S-4000 Umzug
Lupe

10. September 2010
Nach erfolgtem Umzug und Inbetrieb-nahme werden seit heute wieder Kundenmessungen am REM Hitachi S-4000 durchgeführt. Allerdings ist die Nutzung des Mikroskops zurzeit eingeschränkt, da wesentliche Installationen im Neubau noch fertiggestellt werden müssen.

Erster Elektronenstrahl im Neubau

Lupe

9. September 2010
Im Rahmen der FIB-Installation gab es heute das erste Elektronenstrahlbild im Mikroskopieneubau!

Umzug des TEM Tecnai G²20 S-Twin

Lupe

7. September 2010
Umzug des Transmissionselektronen-mikroskops Tecnai G²20 S-Twin in den Neubau

Umzug des SEM S-4000

Lupe
Lupe

6. September 2010
Umzug des Rasterelektronenmikroskops Hitachi S-4000 in den Neubau

Anlieferung FIB FEI Helios 600

FIB
Lupe

2. September 2010
Anlieferung der FIB Helios 600 in der ZELMI

Übergabe des Neubaus

Gebäude TEM
Lupe

31. August 2010 
Übergabe des Neubaus, in den 3 unserer Elektronenmikroskope aufgestellt werden.

Installation der FIB

17.8.2010
Ab 2.9.2010 wird im Mikroskopieneubau die neue FIB (Focused Ion Beam Helios 600) installiert, die durch ein gemeinsames EFRE-Projekt "Nano-Werkbank" mit Prof. Eisebitt beschafft wurde. Herzlichen Dank an alle Beteiligten für die Realisierung dieser Gerätebeschaffung!

Umzug von Tecnai und S-4000

17.8.2010
Der Mikroskopieneubau für die AG Lehmann und die ZELMI nähert sich der Fertigstellung. Am 6.9.2010 werden unser Rasterelektronenmikroskop S4000 und das konventionelle Transmissionselektronenmikroskop Tecnai G2 20 in den Neubau umziehen. Beide Geräte werden dazu am 30.8. abgeschaltet.
Das S4000 steht ab Mitte September und das Tecnai ab Ende September wieder zur Verfügung. Wir freuen uns dann bei idealen Aufstellungsbedingungen endlich das Optimum aus beiden Geräten erhalten zu können! Herzlichen Dank an alle Beteiligten für die Realisierung dieses einmaligen Laborbaus.

Die bisherigen Ansprechpartner und Telefonnummern bleiben erhalten.

Neue Veröffentlichung erschienen

Titelbild in Advanced Functional Materials
Titelbild in Advanced Functional Materials
Lupe

22.06.2010
Mit Beteiligung der ZELMI sind neue Forschungsergebnisse der AG Hildebrandt veröffentlicht:
Jiu-Ju Feng, Ulrich Gernert, Peter Hildebrandt, Inez M. Weidinger:
"Induced SER-Activity in Nanostructured Ag-Silica-Au Supports via Long-Range Plasmon Coupling" http://www3.interscience.wiley.com
/journal/123552405/abstract







Bilddatei

Lange Nacht der Wissenschaften

05.06.2010
Wir danken den 567 Besuchern der Langen Nacht der Wissenschaften für Ihr Interesse am "Haus der Mikroskopie" in der ZELMI!

Neue Veröffentlichung erschienen

Die ZELMI unterstützt die Arbeit von Kunsthistorikern durch elektronenmikroskopische Messungen an Gemälden und Skulpturen. Zu unseren REM/EDX-Untersuchungen an einem Portrait des Kurfürsten Joachim II. von Brandenburg von Lukas Cranach d. J. (um 1555) in Zusammenarbeit mit der Stiftung Preußische Schlösser und Gärten gibt es eine aktuelle Veröffentlichung:
J. Nissen, Dr. J. Bartoll
SEM/EDX-Analysis in Art History
Imaging & Microscopy, April 2010

Herzlichen Glückwunsch Alexander Thiel

Alexander Thiel hat seine Diplomarbeit

Photometrische 3D-Rekonstruktion aus Bilddaten eines Rasterelektronenmikroskops mit einem 4-Quadranten-Rückstreuelektronen-Detektor

im April 2010 erfolgreich abgeschlossen.
Die Diplomarbeit wurde von Prof. O. Hellwich vom FG Computer Vision & Remote Sensing der TU Berlin betreut. Das Thema wurde von der ZELMI in Kooperation mit dem Potsdamer Unternehmen m2c gestellt und an der ZELMI unter Leitung von Dr. D. Berger angefertigt.

Wahl der Vorsitzenden des Rates der ZELMI

Herzlichen Glückwunsch an
Herrn Prof. G. Franz zur Wahl als Vorsitzender des Rates der ZELMI
und an
Herrn Prof. P. Hildebrandt zur Wahl als stellvertretenden Vorsitzenden des Rates der ZELMI

Beide Kandidaten haben die Wahl angenommen. Wir freuen uns auf die Zusammenarbeit!

Sitzung des ZELMI-Rates

Die konstituierende Sitzung des Rates der ZELMI für die kommenden 2 Jahre findet
am Freitag, den 16.4.2010
um 11:00
im Raum KWT 107 (ZELMI) statt.

Vorlesung Physikalische Analyseverfahren

Ab 20.04.2010 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der ZELMI und am GFZ Potsdam

Praktikum REM für Biotechnologen

Am 22.03.2010 findet wieder das Praktikum "Rasterelektronen-Mikroskopie für Biotechnologen" (LV 3237 L285) in der ZELMI statt. Leider sind bereits alle Plätze vergeben. Inetressenten können sich jetzt für das nächste Praktikum im nächsten Jahr vormerken lassen.

Aktuelle Veröffentlichung

Zu unseren Arbeiten zur Steigerung der Nachweisempfindlichkeit für leichte Elemente durch Verwendung einer speziellen Röntgenoptik in Kombination mit Silizium Drift Detektoren gibt es eine aktuelle Veröffentlichung:
U. Gernert
EDS Using an SDD with Xray Optic
Imaging & Microscopy, Mar 2010, vol. 12

Vortrag Dr. Berger

5. und 12. März 2010  9.00 Uhr KWT 107
Neuerungen von aktuellen Rasterelektronenmikroskopen SEM

Anhand von Aufnahmen soll gezeigt werden, welche verbesserten bzw. neuen Analysemethoden aktuelle SEMs bieten

Weiterbildung „Instrumentelle Analytik"

Im Rahmen der aus Mitteln des Europäischen Sozialfonds (ESF) geförderten Weiterbildung „Instrumentelle Analytik“ findet vom 16. bis 20. November 2009 der Kurs A „Moderne Methoden der Strukturcharakterisierung und Analytik im Elektronenmikroskop“ in der Zentraleinrichtung Elektronenmikroskopie statt.
Dieser Kurs ist bereits ausgebucht.

Vorlesung Messtechnische Grundlagen

Ab 13.10.2009 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
-historische und moderne Messgeräte für elektrische Größen, inkl. AD-Wandler
- Oszilloskope
- von Transistorverstärker über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, Box-Car etc. und ihre Beschaltungen
- Sensoren für nichtelektrische Größen (Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung etc.)

Neues EDX-System am REM

12.10.2009
Unser Zeiss Feldemissions-REM DSM 982 ist zurzeit ausgestattet mit dem EDX-System der Fa. IXRF SYSTEMS, Inc. in Kombination mit einem e2v silicon drift detector neuester Bauart.
Mit freundlicher Unterstützung durch die eumeX Instrumentebau GmbH.

Vortrag Prof. Krauss 12.10.2009 14:00

Prof. G. Krauss
Lupe

Wir danken Herrn Prof. Krauss für seinen Vortrag und seinen Aufenthalt in der ZELMI, bei dem er uns wertvolle Hinweise für die weitere Arbeit der TEM-Analyse an Stählen gegeben hat.

“Dramatic Developments in Automotive Sheet Steel Processing, Chemistry, Microstructure and Properties”
by
George Krauss
University Emeritus Professor and
Research Professor Colorado School of MinesGolden, Colorado, U.S.A.

12. Oktober 2009, 14:00
Technische Universität Berlin
KWT 107 (ZELMI)

Alle Interessenten sind herzlich willkommen!

Tecnai G² 20 S-Twin

6.5.2009
Nach 8 wöchiger Wartungs- und anschließender Reparaturzeit soll das TEM nun ab 12.5.2009 wieder zur Verfügung stehen. Wir bemühen uns, die aufgelaufenen Analyseanfragen schnell aufzuarbeiten.

Tagungsbeteiligung MC2009

15.5.2009
Die ZELMI beteiligt sich mit 5 Beiträgen an der Elektronenmikroskopietagung MC2009 in Graz 1. - 4.9.2009:

• Quantitative Analysis of Nanoparticles with EPMA
• SEM/EDX Analysis of a Portrait of Joachim II. Elector of Brandenburg (1505-1571) by Lukas Cranach the younger
• Improving EDS for Light Elements using an attachable X-Ray Optics with an SDD in SEM
• 4-Quadrant-Large-Angles-BSE-Analysis: Problems and Approaches for Quantitative 3D-Surface Reconstruction
• Structural Characterization of Si-Nanowires using a 200kV LaB6 TEM

Nach der Tagung stehen die kompletten Beiträge in der ZELMI zur Verfügung.

Die früheren Tagungsbeiträge der ZELMI hängen nun auch auf dem Flur als Poster aus.


Vorlesung Physikalische Analysenverfahren

24.03.2009
Ab 21.04.2008 findet dienstags wieder die Vorlesung "Physikalischen Analysenverfahren" (3334 L 668) von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
Verfahren der quantitativen Elementanalyse und der Oberflächenanalyse: Massenspektroskopie, SIMS, Ionensonden, Optische Spektroskopie, AAS, AES, AFS, Röntgen(fluoreszenz)analyse, Elektronensonden REM, EDS, WDS, EPMA, TEM, Augerspektroskopie
Abhandlung: physikalische Grundlagen, technische Realisierung, Auswertung der Messergebnisse, Anwendungsbeispiele
praktische Demonstrationen an Geräten der ZELMI

Tecnai G² 20 S-Twin

23.3.2009
Am Transmissionselektronenmikroskop konnten nun zwei neue Probenhalter installiert werden:
• Low-Background-Doppelkipphalter für Kristallographie und/oder EDS-Messungen
• Vakuum-Transfer Doppelkipphalter für sauerstoffempfindliche Proben
Beide Halter wurden durch Prof. Lehmann beschafft.

Praktikum für Biotechnologen

10.3.2009
Ab 30.3.2009 findet wieder das Praktikum "Rasterelektronen-Mikroskopie für Biotechnologen" (LV 3237 L285) in der ZELMI statt. Leider sind bereits alle Plätze vergeben. Inetressenten können sich jetzt für das nächste Praktikum im Herbst vormerken lassen.

Praktikum an der Elektronenstrahl-Mikrosonde

09.02.2009
Vom 16.03. bis 27.03. findet das nächste Mikrosonden-Praktikum statt. Informationen und Anmeldung unter Tel. 23484 oder 26412.
Die Teilnehmerzahl ist begrenzt.

Neuer Mitarbeiter

05.01.2009
Wir begrüßen unseren neuen Mitarbeiter Sören Selve in der ZELMI ganz herzlich. Sein Aufgabengebiet ist die Durchführung von TEM-Untersuchungen im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat und als Auftragsarbeiten für andere Fachgebiete und Arbeitsgruppen.

Neuer EDX-Detektor am REM

SDD am DSM 982
silicon drift detector
Lupe

21.10.2008
Unser Zeiss Feldemissions-REM DSM 982 ist jetzt mit einem EDX-Detektor neuester Bauart (SDD silicon drift detector) ausgestattet. Mit freundlicher Unterstützung durch die remX GmbH.

Vorlesung Messtechnische Grundlagen

1.10.2008
Ab 14.10.2008 findet dienstags wieder die Vorlesung "Messtechnische Grundlagen" von Dr. Dirk Berger statt.
Zeit: 14:15 bis 15:45
Ort: KWT 107 (ZELMI)
Aus dem Inhalt:
-historische und moderne Messgeräte für elektrische Größen, inkl. AD-Wandler
- Oszilloskope
- von Transistorverstärker über Operationsverstärker zu speziellen Verstärkern wie Chopper, Lock-In, Box-Car etc. und ihre Beschaltungen
- Sensoren für nichtelektrische Größen (Temperatur, Druck, Vakuum, Kraft, Weg, Beschleunigung, Drehzahl, Strahlung etc.)

Tecnai G20

22.9.2008
Das TEM Tecnai G20 des UniCat-Clusters konnte nun abgenommen werden und erreicht die am gegewärtigen Standort mögliche Leistung.
Das TEM steht ab sofort für den Nutzerbetrieb zur Verfügung!

TEM-Präparatorin

10.9.2008
Wir begrüßen herzlich unsere neue Mitarbeiterin Frau Cordelia Lange, die sich um die TEM-Präparation insbesondere für UniCat kümmern wird.

Stellenausschreibung "Technische/r Angestellte/r für Probenanalysen mittels TEM"

14.8.2008
An der ZELMI ist die Stelle eines TEM-Operateurs an dem gerade neu
gelieferten FEI Tecnai G20 ausgeschrieben. Es geht zum einen um die Analyse von Katalysatoren der Chemiker im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat und zum anderen um die Mitarbeit im Nutzerbetrieb der ZELMI.
Ausschreibungstext

Installation Tecnai G20

14.8.2008
Am neuen TEM werden derzeit noch Kinderkrankheiten durch den Hersteller ausgemerzt. Daher ist leider noch kein Nutzerservice an dem Gerät möglich.

Erste Ergebnisse mit unserem neuen TEM

silicon nanowires, AG Thomsen
Nanowire, AG Thomsen
Lupe
Neues TEM in der ZELMI: FEI Tecnai G2 20
Lupe

10.07.2008
Das neue 200 kV TEM vom Typ Tecnai G² 20 der Firma FEI ist installiert. Die ersten Aufnahmen und EDX-Messungen sind erfolgversprechend. Kalibrierungen und Testmessungen laufen. Finanziert wird das Tecnai aus Mitteln des Exzellenzclusters UniCat. Für die Charakterisierung katalytischer Substanzen wird es einen wichtigen Beitrag leisten.
Mit dem Tecnai G² 20 verfügen wir über ein TEM, das uns analytische Messungen im Subnanometerbereich ermöglichen wird.

Kolloquium "Mikrobereichsanalyse"

Mit Dr. T. Salge, Fa. Bruker
03.07.2008  9:00 - 13:00 Uhr
Seminarraum KWT 107

Vortrag "Neue Detektionsmethoden im Rasterelektronenmikroskop"

Mit Dr. Jaksch, Fa. Zeiss
12.06.2008  Beginn 12:30 Uhr
Seminarraum KWT 107

Neues TEM geliefert

09.06.2008
Das neue Transmissionselektronenmikroskop ist geliefert und wird gegenwärtig installiert.

Stellenausschreibung "TEM-Präparation"

07.06.2008
Im Rahmen des Exzellenzclusters UniCat ist eine Stelle Techn. Assistent/in für den Bereich der Präparation von Proben für die Analyse im Transmissions-elektronenmikroskop zu besetzen.

Ausschreibungstext

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